EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
芯測
芯測 文章 進(jìn)入芯測技術(shù)社區
芯測科技提供便捷版內存測試方案EZ-BIST
- 中美貿易戰持續延燒，引發(fā)后續波及全球的貿易戰爭，當中更是突顯知識產(chǎn)權合法的重要性。有鑒于此，深耕于開(kāi)發(fā)內存測試與修復技術(shù)的芯測科技(iSTART-Tek，簡(jiǎn)稱(chēng)iSTART)為了協(xié)助客戶(hù)對知識產(chǎn)權領(lǐng)域規避?chē)乐厥诺娘L(fēng)險，日前推出最新便捷版內存內建式自我測試(MBIST)測試方案「EZ-BIST」，適用于MCU相關(guān)的系統芯片開(kāi)發(fā)商。采用芯測科技(iSTART)所提供低成本且高效率的內存測試開(kāi)發(fā)工具，可協(xié)助客戶(hù)快速的開(kāi)發(fā)產(chǎn)品，避免忽略?xún)却鏈y試的細節而導致產(chǎn)品良率下降，而其適用的應用如觸控屏、指紋辨識、語(yǔ)音識
- 關(guān)鍵字： 芯測 EZ-BIST
| 共1條 1/1 1 |
芯測介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條芯測!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對芯測的理解，并與今后在此搜索芯測的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對芯測的理解，并與今后在此搜索芯測的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473