二極管電路中檢測浪涌電流思路指導
對于電路來(lái)說(shuō),浪涌電流是非常影響整體運行效率的一個(gè)問(wèn)題。設計者們想方設法的對浪涌電流進(jìn)行規避,因此各種各樣的測試方法應運而生。在本文中,小編將為大家介紹一種二極管正向浪涌電流的測試基本電路。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201808/386947.htm正弦半波脈沖電流的產(chǎn)生
二極管的規格繁多,常見(jiàn)的額定通態(tài)電流從數百毫安到數百安培甚至更高,IFSM測試需要的峰值脈沖電流要求達到數十倍的額定通態(tài)電流值。標準的測試方法是采用大容量工頻變壓器,截取市電交流波形來(lái)產(chǎn)生時(shí)間常數為10ms、導通角為0°~180°的正弦半波脈沖,如圖1。

圖1正向浪涌電流測試電路
用這種方法產(chǎn)生幾百上千安培的正弦脈沖電流,所用到的變壓器體積重量都非??捎^(guān),安裝與使用十分不便。一些國外公司的產(chǎn)品對浪涌沖擊電流波形有特殊要求,比如要求在正向整流電流的基礎上再加一個(gè)時(shí)間常數為10ms或8.3ms、導通角為0°~180°的正弦半波脈沖電流,或者要求施加連續兩個(gè)時(shí)間常數為10ms或8.3ms、導通角為0°~180°的正弦半波脈沖電流等。顯然再采用市電截取的方法,已經(jīng)很難滿(mǎn)足不同器件的測試要求了。
設計思路
大功率場(chǎng)效應管晶體管是一類(lèi)標準的電壓控制電流器件,在VDMOS管的線(xiàn)性工作區內,漏極電流受柵極電壓控制:IDS=GFS*VGS。給柵極施加所需要的電壓波形,在漏極就會(huì )輸出相應的電流波形。因此,選用大功率VDMOS管適合用于實(shí)現所需的浪涌電流波形,電路形式如圖2所示。

圖2 VDMOS電流驅動(dòng)電路
運放組成基本的反向運算電路,驅動(dòng)VDMOS管的柵極,漏源電流通過(guò)VDMOS管源極取樣電阻,加到運放反向輸入端,與輸入波形相加形成反饋,運放輸出電壓控制VDMOS管的柵極電壓VGS,進(jìn)而控制漏極輸出電流IDS。這個(gè)IDS就是施加給待測二極管(DUT)的正向浪涌電流。
單只VDMOS管的功率和電流放大能力是有限的,無(wú)法達到上千安培的輸出電流能力,采用多只并聯(lián)的方式可以解決這個(gè)問(wèn)題,以達到所需要的峰值電流。常見(jiàn)的連接方法如圖3所示。

圖3 VDMOS并聯(lián)方式
在以上的內容中,本文對于各種浪涌電流沖擊測試的要求進(jìn)行了介紹,并且測試所用的元器件都是常見(jiàn)的一些元器件。測試電路擁有體積小重量輕的特點(diǎn),方便快速組合成測試儀器。在較不穩定環(huán)境中進(jìn)行測量時(shí)的優(yōu)勢較為明顯。
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