同時(shí)對兩臺設備進(jìn)行EMI測試時(shí)為何通不過(guò)?

在對電源進(jìn)行EMI測試的過(guò)程中，開(kāi)發(fā)者大多會(huì )將每個(gè)電源進(jìn)行單獨的測試。但是在一些特殊的情況中，需要將兩個(gè)電源共同進(jìn)行EMI的測試，此時(shí)就有可能出現一種情況，那就是兩個(gè)電源分別進(jìn)行測試時(shí)順利通過(guò)。但是當兩個(gè)電源同時(shí)進(jìn)行測試時(shí)則會(huì )無(wú)法通過(guò)，這是為什么呢?

這種情況其實(shí)并不難解決。兩個(gè)電源串接或者并接出現EMI不良的問(wèn)題，主要還是這種接法電源端口的電容、電感導致相互影響導致測試的頻率特性發(fā)生變化引起的結果。

一般來(lái)說(shuō)電源產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中都會(huì )進(jìn)行EMI性能測試，測試要求都是在現有標準的限值的基礎上在降低6dB，作為設計余量。

但是實(shí)際上電源廠(chǎng)家在EMI測試過(guò)程中后端的負載是純電阻負載，這樣和實(shí)際負載是會(huì )有一定差距的。所以想要避免這種情況的出現就需要檢測設備的設計余量足夠大，并且需要在技術(shù)手冊應用電路中設計更加詳細的外圍應用參考電路。