開(kāi)關(guān)電源32個(gè)測試項（三）

23.高溫高濕儲存測試

一、目的:

測試高溫高濕儲存環(huán)境對S.M.P.S.的結構,元件及整機電氣的影響,以考量S.M.P.S.結構設計及零件選用的合理性.

二.使用儀器設備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測試儀

三.測試條件:

儲存高溫高濕條件:通常為溫度70±2℃,濕度90-95%試驗時(shí)間24Hrs(非操作條件).

四、測試方法:

(1).試驗前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況;

(2).將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內,依規格設定其溫度和濕度,然后啟動(dòng)溫控室;

(3).試驗24Hrs,試驗結束后在空氣中放置至少4Hrs,再確認待測品外觀(guān),結構及電氣性能是否有異常.

五、注意事項:

(1).產(chǎn)品試驗期間與試驗后,產(chǎn)品性能不能出現降級與退化現象.

(2).試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規格書(shū)要求.

24.低溫操作測試

一、目的:

測試低溫環(huán)境對S.M.P.S.操作過(guò)程中的結構,元件及整機電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結構設計及零件選用的合理性.

二.使用儀器設備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

(1).依SPEC.要求:輸入條件(RATED VOLTAGE),輸出負載(FULL LOAD)和操作溫度(OPERATION TEMP.),通常溫度為:(0℃).

(2).試驗時(shí)間: 4Hrs.

四、測試方法:

(1).將待測品置于溫控室內,依規格設定好輸入輸出測試條件,然后開(kāi)機.

(2).依規格設定好溫控室的溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3).定時(shí)記錄待測品輸入功率和輸出電壓,以及待測品是否有異常;

(4).做完測試后將待測品從溫控室中移出,在常溫環(huán)境下恢復至少4小時(shí),然后確認其外觀(guān)和電氣性能有無(wú)異常.

五、注意事項:

(1).產(chǎn)品試驗期間與試驗后,產(chǎn)品性能不能出現降級與退化現象.

(2).試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規格書(shū)要求.

25.低溫儲存測試

一、目的:

測試低溫儲存環(huán)境對S.M.P.S.的結構,元件及整機電氣的影響,用以考量S.M.P.S.結構設計及零件選用的合理性.

二.使用儀器設備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

儲存低溫條件:通常為溫度-30℃,試驗時(shí)間24Hrs(非操作條件).

四、測試方法:

(1).試驗前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況.

(2).將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內,依規格設定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3).試驗24Hrs,試驗結束后在空氣中放置至少4Hrs,再將待測品做HI-POT測試,記錄測試結果,之后確認待測品的外觀(guān),結構及

電氣性能是否有異常.

五、注意事項:

(1).產(chǎn)品試驗期間與試驗后,產(chǎn)品性能不能出現降級與退化現象.

(2).試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻測試需符合規格書(shū)要求.

26.低溫啟動(dòng)測試

一、目的:

測試低溫儲存環(huán)境對S.M.P.S.的整機電氣的影響,用以考量S.M.P.S.電氣及零件選用的合理性.

二.使用儀器設備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

三.測試條件:

儲存低溫條件:通常為操作溫度0℃條件下降低到-10 ±2℃,儲存時(shí)間至少4Hrs.

四、測試方法:

(1).試驗前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況.

(2).將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內,依規格設定其溫度,然后啟動(dòng)溫控室.

(3).試驗溫度儲存至少4Hrs,然后分別在115Vac/60Hz 230Vac/50Hz和輸出最大負載條件下開(kāi)關(guān)機各20次,確認待測品電氣性能是否正常.

五、注意事項:

(1).在產(chǎn)品性能測試期間或測試之后,產(chǎn)品性能不能出現降級與退化現象.

(2).設定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度.

27.溫度循環(huán)測試

一、目的:

測試針對S.M.P.S.所有組成零件的加速性測試,用來(lái)顯露出在實(shí)際操作中所可能出現的問(wèn)題.

二.使用儀器設備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

操作溫度條件:通常為低溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃(濕度: 50-90%),試驗至少24個(gè)循環(huán).

四、測試方法:

(1).試驗前記錄待測品輸入功率,輸出電壓及HI-POT狀況.

(2).將確認后的待測品置入恒溫恒濕機內,以無(wú)包裝,非操作狀態(tài)下.

(3).設定溫度順序為66±2 ℃保持1小時(shí), 33±2 ℃和濕度90±2%保持1小時(shí), -40±2 ℃保持1小時(shí), 25±2 ℃和濕度50±2%保持30分鐘,為一個(gè)循環(huán).

(4).啟動(dòng)恒溫恒濕機,然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形,監視系統所記錄的過(guò)程,

(5).試驗完成后,溫度回到室溫再將待測物從恒溫恒濕機中移出,放置樣品在空氣中4Hr再確認外觀(guān),結構及電氣性能是否有異常.

五、注意事項:

(1).經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的性能與外觀(guān)不能出現降級與退化現象.

(2).經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻應符合規格書(shū)要求.

28.冷熱沖擊測試

一、目的:

測試高,低溫度沖擊對S.M.P.S.的影響,用來(lái)揭露各組成元件的弱點(diǎn).

二.使用儀器設備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). TEMP. CHAMBER /溫控室;

(5). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

(1).依SPEC.要求:儲存最高(70℃),低溫度(-30℃),測試共10個(gè)循環(huán),高低溫轉換時(shí)間為2min;

(2).依客戶(hù)所提供的試驗條件.

四、測試方法:

(1).在溫控室內待測品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉變,并低溫烘烤1Hr.

(2).溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉變,轉變時(shí)間為2min.,并高溫烘烤1Hr.

(3).在高溫70 ℃和低溫-30 ℃之間循環(huán)10個(gè)周期后,溫度回到常溫將S.M.P.S.取出(至少恢復4小時(shí)).

(4).確認待測品的標簽、外殼、耐壓和電氣性能有無(wú)與測試前的差異.

五、注意事項:

(1).經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的性能與外觀(guān)不能出現降級與退化現象.

(2).經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗后產(chǎn)品的介電強度與絕緣電阻應符合規格書(shū)要求.

(3).產(chǎn)品為非操作條件.

28.冷熱沖擊測試

一、目的:

測試S.M.P.S.在規格耐壓和時(shí)間條件下,是否產(chǎn)生電弧ARCING,其CUT OFF CURRENT是否滿(mǎn)足SPEC.要求,及是否會(huì )對S.M.P.S.造成損傷.

二.使用儀器設備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

依SPEC.要求:耐壓值(4242Vdc / 3000Vac)、操作時(shí)間(1 minute)和CUT OFF CURRENT(3.5mA)值;

四、測試方法:

(1).依SPEC.設定好耐壓WITHSTANDING VOLTAGE,操作時(shí)間TIME, CUT OFF CURRENT值.

(2).將待測品與耐壓測試儀依要求連接,進(jìn)行耐壓測試,觀(guān)察是否有產(chǎn)生電弧ARCING,及漏電流CUT OFF CURRENT是否過(guò)大.

(3).耐壓測試后,確認待測品輸入功率與輸出電壓是否正常.

五、注意事項:

(1).測試前應先設定好耐壓測試儀的測試條件,待測品的輸入與輸出分別應與測試儀接觸良好.

(2).耐壓的規格值設定參考安規要求.

30.跌落測試

一、目的:

了解S.M.P.S.由一定高度,不同面進(jìn)行跌落DROP,其結構,電氣等特性的變化狀況.

二.使用儀器設備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

依SPEC.要求:規定的跌落高度、跌落次數和剛硬的水平面.

四、測試方法:

(1).所有待測品需先經(jīng)過(guò)電氣上的測試及目視檢查，以保證測試前沒(méi)任何可見(jiàn)的損壞存在.

(2).確定六個(gè)面(小-大)順序依次進(jìn)行跌落.

(3).使待測品由規定的高度及項(2)所確定的測試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落,每跌落一次均須對其電氣及絕緣等進(jìn)行確認,記錄正?；虍惓＝Y果.

31.絕緣阻抗測試

一、目的:

測量待測物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值.

二.使用儀器設備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負載;

(3). AC POWER METER /功率表;

(4). HI-POT TESTER /高壓測試儀;

三.測試條件:

(1).依SPEC.要求:施加500V直流電壓后進(jìn)行測試的絕緣阻抗值要高10MOhm(常規定義).

四、測試方法:

(1).確認好電氣性能后,在絕緣阻抗測試儀中設定好施加的電壓(500Vdc)和測試的時(shí)間(1 Minute).

(2).將待測物輸入端和輸出端分別短路連接,然后分別連接測試儀對應端進(jìn)行測試.

(3).再將待測物輸入端和外殼之間分別與測試儀對應端連接進(jìn)行測試.

(4).確認待測物的測試絕緣阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm.

五、注意事項:

(1).阻抗要求值依安規標準要求定義.

32.額定電壓輸出電流測試

一、目的:

測試S.M.P.S.在A(yíng)C LINE及OUTPUT VOLT.一定時(shí),其輸出電流值.

二.使用儀器設備:

(1). AC SOURCE /交流電源;

(2). ELECTRONIC LOAD /電子負載;

三.測試條件:

四、測試方法:

(1).固定輸入電壓與頻率,依條件設定CV模式下的輸出電壓.

(2).開(kāi)機后待輸出穩定時(shí)記錄輸出電流值.

(3).切換輸入電壓與頻率,記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值.

(4).在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值.

五、注意事項:

記錄輸出電流值前待測品電流值需穩定.