簡(jiǎn)述BSDL邊界掃描語(yǔ)言，BSDL邊界掃描語(yǔ)言的應用

BSDL邊界掃描語(yǔ)言的邊界掃描是一個(gè)完善的測試技術(shù)。 邊界掃描在自當聯(lián)合測試行動(dòng)組(JTAG)90年代初發(fā)明了一種解決方案來(lái)測試使用了許多新的印刷電路，正在開(kāi)發(fā)和制造的地方幾乎沒(méi)有或根本沒(méi)有測試探針板的物理訪(fǎng)問(wèn)。 一旦邊界掃描成立后，下一步是制定一個(gè)標準的芯片供應商的模型邊界掃描設備，工具供應商開(kāi)發(fā)自動(dòng)化工具，以及為最終用戶(hù)創(chuàng )建的邊界掃描測試的建模語(yǔ)言。 因此，邊界掃描描述語(yǔ)言(BSDL)已建立。

BSDL是邊界掃描設備的標準建模語(yǔ)言。 它的語(yǔ)法是一個(gè)VHDL的子集，它符合IEEE 1149.1-2001的規定。 它是由使用邊界掃描測試開(kāi)發(fā)人員，設備模擬器，半導體測試儀，電路板級測試，任何人利用邊界掃描。 使用的的BSDL促進(jìn)整個(gè)電子行業(yè)的一致性。 此外，它使任何邊界掃描中的一個(gè)有用的，可以理解的，一致的方式和設備的功能規范。

BSDL走出了邊界掃描測試哲學(xué)的發(fā)展。 最初的IEEE 1149.1-1990標準的(見(jiàn)[符合IEEE 1149.1(JTAG接口)])標準描述的邊界掃描并于1990年批準發(fā)布，并作為結果，使用邊界掃描技術(shù)開(kāi)始增長(cháng)。 該標準的下一次修訂在1993年發(fā)生。 在1994年進(jìn)一步修訂納入了IEEE 1149.1-1994標準的BSDL。

什么是的BSDL?

邊界掃描描述語(yǔ)言使用戶(hù)能夠提供的方式，邊界掃描在任何特定的設備實(shí)施的說(shuō)明。 由于每個(gè)芯片設計趨于應用邊界掃描方式略有不同標準，這是一個(gè)需要理解的表達，具體和實(shí)用的方式測試。是書(shū)面的BSDL在VHDL的子集。 VHDL語(yǔ)言是常用的一種為FPGA和ASIC設計輸入的數字電路電子設計自動(dòng)化的語(yǔ)言，因此它是與邊界因為許多芯片設計掃描是用這種語(yǔ)言進(jìn)行工作相適應的。 但是的BSDL是一個(gè)“子集和標準做法”的VHDL，即VHDL語(yǔ)言的范圍，從而對邊界掃描應用受到限制。

設計過(guò)程中的BSDL有兩種語(yǔ)言的主要標準：

BDSL使設備的使用邊界掃描功能，準確和有用的說(shuō)明。 BSDL文件是所使用的邊界掃描工具，使設備的使用功能，使任何測試性分析測試程序生成，?故障診斷，以及使用。 的BSDL不是一個(gè)可以用硬件描述語(yǔ)言，相反，它是用來(lái)定義設備的數據傳輸的特點(diǎn)，即它是如何捕獲，轉變和更新掃描數據。 這才是用于定義測試能力。

BSDL文件包括以下數據：

實(shí)體聲明 ：本實(shí)體聲明是一個(gè)VHDL構造，是用來(lái)識別文件名 的BSDL設備所描述的。

泛型參數 ：通用參數是指定哪個(gè)區段包描述。

邏輯端口說(shuō)明 ：這說(shuō)明列出了設備的所有連接。 它定義它的基本屬性，即是否連接輸入(以位;)，輸出(OUT位;)，雙向(inout的位;)，或者如果它是不可用的邊界掃描(連鎖位;)。

封裝引腳映射 ：包引腳映射被用于確定一個(gè)集成電路的內部連接范圍內。 它詳細介紹了如何在設備上的墊片裸片連接到外部引腳。

USE語(yǔ)句 ：這句話(huà)是用來(lái)調用BSDL文件VHDL語(yǔ)言包，該數據包含在所引用。

掃描端口標識 ：掃描端口標識識別引腳的JTAG執行工作/這是用于邊界掃描。 這些措施包括：TDI的，商品說(shuō)明條例，訓練管理系統，TCK和TRST的(如果使用)。

測試訪(fǎng)問(wèn)端口(TAP)說(shuō)明 ：本實(shí)體提供設備的其他信息的邊界掃描和JTAG邏輯。 這些數據包括指令寄存器的長(cháng)度，指令操作碼，設備的IDCODE等。

邊界寄存器描述 ：這說(shuō)明提供器件結構的邊界掃描單元上。 每個(gè)器件引腳上最多可以有三個(gè)邊界掃描單元，每個(gè)單元格組成的一個(gè)寄存器鎖存器和一個(gè)。

BSDL怎樣使用?

當電路板的設計，邊界掃描兼容設備被組織成“鏈”。 掃描鏈構成了板級和系統級的測試，可以檢測和診斷引腳層次的結構性缺陷，如開(kāi)路和短路的基礎。 自動(dòng)化工具用于生成測試方案或議會(huì )的程序。 最重要的投入，這個(gè)過(guò)程是邊界掃描功能的設備的BSDL文件，以及網(wǎng)表描述板之間的互連的設備。 生成的測試程序，當應用到目標板，報告的結構測試失敗，可以用來(lái)幫助板維修。

有些工具能夠使用邊界掃描創(chuàng )造集群的組件包括非邊界掃描兼容設備的測試模式，和其他工具可以生成測試模式，一個(gè)板上處理器可以運行，以便能夠在高速功能測試。 這些測試應用程序獨立或與其他測試技術(shù)，如在電路，結合測試(ICT)的，具有生產(chǎn)以最低的成本最優(yōu)的測試覆蓋的總體目標和最短的測試開(kāi)發(fā)時(shí)間。

邊界掃描語(yǔ)言的BSDL，被廣泛用于在IEEE 1149.1 / JTAG的社會(huì )使一致，準確和有用的資料供邊界掃描功能的設備定義。 通過(guò)這種方式，該芯片可以被納入一個(gè)設計，它的功能用在最有效的方式充分。

邊界掃描器件BSDL描述在測試中的應用

1、引言

“邊界掃描”是一種可測性設計技術(shù)，即在電子系統的設計階段就考慮其測試問(wèn)題[1]。

BSDL(boundary scan des cripTIon language) 語(yǔ)言硬件描述語(yǔ)言(VHDL)的一個(gè)子集，是對邊界掃描器件的邊界掃描特性的描述，主要用來(lái)溝通邊界掃描器件廠(chǎng)商、用戶(hù)與測試工具之間的聯(lián)系，其應用包括：廠(chǎng)商將BSDL描述作為邊界掃描器件的一部分提供給用戶(hù);BSDL描述為自動(dòng)測試圖形生成(ATPG)工具測試特定的電路板提供相關(guān)信息;在BSDL 的支持下生成由IEEE1149.1標準定義的測試邏輯 [2]?，F在，BSDL語(yǔ)言已經(jīng)正式成為IEEE1149.1標準文件的附件。BSDL本身不是一種通用的硬件描述語(yǔ)言，但它可與軟件工具結合起來(lái)用于測試生成、結果分析和故障診斷。每一邊界掃描器件都附有特定的BSDL描述文件，為了論述的方便，本文將以Altera公司的CPLD器件 EPM7128SL84 芯片為例說(shuō)明BSDL描述在測試中的應用。

2、EPM7128SL84芯片的BSDL描述

該器件采用了先進(jìn)的CMOS EEPROM制造工藝，共有84個(gè)引腳，其中包括四個(gè)JTAG測試引腳 TDI、TMS、TCK和TDO，通過(guò)標準JTAG測試接口它還可以支持在系統可編程(ISP)。下面首先討論EPM7128SL84的BSDL描述中與應用相關(guān)的各基本元素。

2.1 TAP描述

TAP描述說(shuō)明與TAP控制器相關(guān)的特性。TAP 控制器包括4個(gè)或5個(gè)控制信號，一個(gè)用戶(hù)定義的指令集(在IEEE1149.1標準規定范圍內)和一些可選擇的數據寄存器。EPM7128SL84的 TAP描述有：