FLIR ETS320?紅外熱像儀，專(zhuān)為實(shí)驗室工作而生

　　現在，電子元件和印刷電路板運行速度越來(lái)越快，體積越來(lái)越小，通過(guò)使用小零件實(shí)現高性能、高速度，達到皮秒(萬(wàn)億分之一秒)級的精度已經(jīng)成為了一種潮流，但這也這就意味著(zhù)零件會(huì )發(fā)熱，甚至出現短路或者部件受損的情況。所以檢測這些由于發(fā)熱而受損的部件對于科研或者產(chǎn)品測試人員來(lái)說(shuō)成為了一種挑戰。

　　而全球紅外熱像領(lǐng)域的高端供應商菲力爾最新推出的FLIR ETS320?紅外熱成像儀正好解決了這個(gè)難題，作為FLIR推出的專(zhuān)門(mén)針對在實(shí)驗室環(huán)境下進(jìn)行電子元件和印刷電路板(PCB)熱特性測試與分析而設計的紅外熱像儀，FLIR ETS320?可以提高電子產(chǎn)品行業(yè)的測試和診斷精度，幫助工程師和測試技術(shù)員在數秒鐘內收集精確、可靠的熱數據并執行分析，輕松檢測出哪些部件受損。

　　那么這套針對電子實(shí)驗室所研發(fā)的紅外熱像儀究竟具備哪些特性，竟然可以使用在處在金字塔頂端的科研領(lǐng)域?

　　以往，實(shí)驗室測溫一般采用熱電偶和點(diǎn)溫計兩種方法，但是在實(shí)踐應用中，檢測人員需要直接接觸需要被檢測的電子器件或者印刷電路板，不但操作繁瑣，而且也給實(shí)驗數據的精準性帶來(lái)了局限。而FLIR ETS320?紅外熱像儀則完全避免了這些缺點(diǎn)，不僅檢測時(shí)間短，而且測量精度誤差小，在操作方面也極具靈活性，為測試人員提供方便的同時(shí)，也促進(jìn)了產(chǎn)品的設計。

　　省去估算環(huán)節，快速的檢測　　

        FLIR ETS320?具有非接觸式溫度測量和即時(shí)熱點(diǎn)檢測等優(yōu)點(diǎn)，可摒除熱測試中的猜測成分，檢測到細微溫度變化(< 0.06°C)和量程高達250°C的熱生成;無(wú)需像使用熱電偶和RTD(電阻式溫度檢測器)測量那樣進(jìn)行熱點(diǎn)位置估算，可以快速發(fā)現熱點(diǎn)和潛在故障點(diǎn)，節省大量時(shí)間。

　　76，800點(diǎn)溫度測量，讓設計缺陷無(wú)所遁形

　　借助其搭載的320*240像素的紅外傳感器，FLIR ETS320?可以提供 76，800點(diǎn)的溫度測量，同時(shí)具有真45°視場(chǎng)角，可進(jìn)行范圍較廣的初次掃描， 檢測人員可以輕松鎖定熱點(diǎn)，識別潛在的故障點(diǎn)，無(wú)需擔心藏于暗處的散熱器。 溫度測量精度更是高達±3°C，可測量小至170 μm/像素點(diǎn)尺寸的部件，可以確保產(chǎn)品達到質(zhì)量保證和工廠(chǎng)驗收標準。

　　小平臺設計，解放了人的雙手

　　FLIR ETS320?采用恒定的非接觸式熱測試方法，將高靈敏度熱像儀與可調節的免手持式實(shí)驗臺架相結合，使測試目標穩定地固定在檢測儀表下，提供固定、恒定的焦距、不會(huì )搖晃和振動(dòng)，解放了人的雙手。在檢測時(shí)，可以通過(guò)拉近鏡頭對較小的部件進(jìn)行成像，或者拉遠鏡頭將整個(gè)電路板納入視野，適應了電子元件越來(lái)越快，越來(lái)越小的檢測新要求。

　　借助一體式測試臺和滑動(dòng)架，該熱像儀系統達到了最佳的靈活性，能夠對各種印刷電路板或電子設備進(jìn)行成像。

　　連接電腦，高級分析不是事

　　FLIR ETS320?自帶強大的FLIR Tools+軟件系統，可以存儲1500張照片，具有SD卡存儲和USB下載功能。如果需要執行高級分析，例如，繪制時(shí)間對應溫度的曲線(xiàn)，可以通過(guò)USB口將熱像儀連接至安裝有FLIR Tools+軟件的PC或電腦，它可以自動(dòng)連接并生成實(shí)時(shí)圖像，用于高級分析和數據傳輸。

　　無(wú)論是科學(xué)研究或工業(yè)產(chǎn)品測試，熱數據都是是衡量系統運行的一個(gè)重要指標。隨著(zhù)電子產(chǎn)品變得越來(lái)越小、功能越來(lái)越強大，觀(guān)察和了解這些系統的熱性能勢在必行。而FLIR ETS320?熱像儀具有較高的測量精度，能將細微的溫差以可視化的方式呈現，有助于熱性能評價(jià)、確保環(huán)境兼容性以及對多種電子產(chǎn)品執行故障診斷。