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鋰離子電池管理芯片的研究及其低功耗設計 — 模擬電路的低功耗設計方法

作者: 時(shí)間:2017-06-04 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò ) 收藏

2.2.2的低功耗設計方法

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201706/348230.htm

1弱反型區/亞閾值區電路

傳統的中,工作在強反型區也意味著(zhù)需要更多的功耗,在低功耗設計中可以將工作區域進(jìn)行拓展,以求得功耗和面積之間的平衡。其中,研究得較多 的是工作在亞閾值區(Sub-threshold Region)或弱反型(Weak I nversion,WI)區的電路。當增強型在低于閾值電壓工作時(shí),溝道漏電流并不為零,而是存在一個(gè)亞閾值電流,此時(shí)器件處于弱反型狀態(tài)。

首先,來(lái)推導MOS管的弱反型電流模型。通常,偏置在弱反型的MOS管中,漏電流ID主要由擴散電流決定,它和PN結中少子的熱激發(fā)相關(guān),因此電流值也和襯底溫度密切有關(guān)。此時(shí),ID可以用端電壓的形式導出:



其中,可令為耗盡層電容,在現代CMOS工藝中,k的值在0.6到0.8之間,通常取k=0.7,n為亞閾值因子??梢钥闯?,ID與溝道電壓呈指數關(guān)系。在式(2.2.21)和(2.2.22)中,有



其中,V T0為本征閾值電壓。在式(2.2.22)中,定義



從上式知,ID0以指數形式依賴(lài)于VG,設計中很難控制。所以,要將MOS管偏置在弱反型區,通常采用固定的漏電流I D而不是固定的柵壓VG。

接下來(lái),討論弱反型MOS管的飽和電壓特性。當VDS>4UT或5UT時(shí),由式(2.2.21)得



可認為在弱反型區的飽和電壓為



在常溫下,式(2.2.26)中規范的VDS(sat)約為100mV,因此在極低的電源電壓下,即使采用cascaded結構,弱反型區電路仍然能夠獲得足夠的擺幅,并且功耗極低。

而由漏電流方程,很容易推導出弱反型區MOS管的跨導為



由 式(2.2.27)知,和工作在強反型區的MOS管不同,弱反型MOS管的跨導只與工作電流成線(xiàn)性關(guān)系。在給定的容性負載下,跨導直接影響著(zhù)器件的最小噪 聲、驅動(dòng)能力和帶寬,所以可以使MOS管工作在弱反型區,來(lái)獲得給定電流下的跨導最大值。這些優(yōu)點(diǎn),在低電壓低功耗設計中非常具有吸引力。

但是將MOS管偏置在弱反型區,需要較高的W/L,則意味著(zhù)較大的電容、較大的器件面積。另外,亞閾值電路中還有一些實(shí)際問(wèn)題需要考慮。

一是噪聲對電路功耗有限制。如圖2.2.3所示的帶有源負載的OPA中,輸入級工作在弱反型區時(shí),由于gm =I/(nUT)則由式(2.2.9)和式(2.2.13)決定的DR GBW值將與VGS-VTH無(wú)關(guān)。因此,作為跟隨器時(shí),OPA所需要的最小功耗滿(mǎn)足



另外,還需要考慮精度對功耗的影響。MOS管工作在弱反型區,gm/ID值較大,式(2.2.16)則變?yōu)?br />


式(2.2.29)可以看出,由于弱反型MOS管有較大的電流失配,并不適合用在電流信號電路如電流鏡中,但在電壓信號處理電路如差分對中,失調達到最小,僅由閾值電壓失配決定,即能實(shí)現最佳精度。

考慮到單端輸入,工作在弱反型區的器件,增益帶寬積為



式(2.2.31)給出了弱反型區器件的功耗-速度-精度的關(guān)系式,同樣在更復雜的電路形式中,上式仍然適用。

2電流模式電路

電 流模式(Current-mode circuit)CMOS電路自1983年首次提出后,日益受到重視。所謂的電流模式電路,是指選用電流而不是電壓為電路中的信號變量,并通過(guò)處理電流變 量來(lái)決定電路的性能,即前面提到的電流信號處理電路。和電壓模式電路相反,電流信號源具有高輸出阻抗,所以要求負載阻抗低,電路中關(guān)鍵節點(diǎn)阻抗低。在低壓 低功耗應用中,電流模式電路的這些特點(diǎn)有廣闊的應用前景。

首先,可以在保證性能的前提下,通過(guò)進(jìn)一步降低電源電壓來(lái)實(shí)現低功耗。

不管是連續時(shí)間系統還是離散時(shí)間系統中,電流、電壓模式電路中與動(dòng)態(tài)范圍相關(guān)的功耗滿(mǎn)足下式



式(2.2.32)中可見(jiàn),為了維持同樣的DR*GBW值,當電源電壓降低時(shí),電壓模式電路中需要消耗比電流模式電路更多的功率。另外,電流模式電路的電壓擺幅低,這都說(shuō)明了在低功耗設計中,電流模式電路更容易滿(mǎn)足低電壓要求。

其次,電流模式電路更容易滿(mǎn)足速度的要求。如式(2.2.18)說(shuō)明,器件的工作速度、帶寬與節點(diǎn)電容成反比,而電流模式電路的低電容節點(diǎn)保證了有更快的充放電速度,因此有望能夠在高頻高速場(chǎng)合中獲得應用。

最后,電流模式電路顯然更容易實(shí)現基于電流信號的運算。中許多基本的運算功能,如加、減、乘、積分等,用電流模式電路實(shí)現要比電壓模式電路簡(jiǎn)單。比如,在一個(gè)低阻抗節點(diǎn)就可以完成電流信號的加或減運算。

3浮柵技術(shù)

浮柵(Floating Gate,FG)技術(shù)是另一個(gè)用于減輕模擬電路對電源電壓要求的方法。幾十年來(lái),FG MOS管被用在數字EPROM或EEPROM中,近年來(lái)有一些文獻介紹了FG MOS管在模擬電路中的應用。

圖2.2.4給出了一個(gè)多輸入的FG MOS管電路結構模型。由圖可見(jiàn),FG MOS管的浮柵類(lèi)似于傳統MOS管的柵極,但是浮柵電壓VFG不是被直接控制,而是通過(guò)電容耦合由控制柵極決定。



如果是兩輸入結構的FGMOS管,其中的一個(gè)柵極被稱(chēng)為偏置柵極,加上較高的直流偏置電壓V B;另一個(gè)加上信號則被稱(chēng)為信號柵極,則MOS管的等效閾值電壓為



式中,k 1 =C G1 /C TOPAL,k2=CG2/CTOPAL,其中CG1、CG2分 別是浮柵和控制柵間的電容,C TOPAL則是圖2.2.4中所示電容總和。FG MOS管的一個(gè)突出優(yōu)點(diǎn)是浮柵和其它節點(diǎn)的電隔離十分理想,所以電荷能夠穩定存在,甚至能長(cháng)達數年。適當改變浮柵上的靜電荷數量,即選擇適當的k 1和k 2值,由式(2.2.33)可知,控制柵極上的等效閾值電壓可以降低,從而得到一個(gè)低VTH的MOS管,可用于低壓模擬電路中。

明 顯地,這項技術(shù)需要制作浮柵,工藝較為復雜,常規工藝下無(wú)法實(shí)現;另外,FG MOS管的輸出阻抗較低,因此也只適合用于低增益電路結構。事實(shí)上,FG MOS技術(shù)應用于低壓模擬電路的設計,還正處于實(shí)驗階段,如FG CMOS模擬微調(trimming)電路、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò )元件、乘法器、D/A轉換器和放大器等。

4體驅動(dòng)MOS管技術(shù)

體 驅動(dòng)或襯底驅動(dòng)MOS管(Bulk-driven or Body-driven MOSFET)技術(shù)是由A. Guzinski等于1987年首次提出的,起初是用作OPA差分輸入級中的有源元件,目的是降低g m以提高線(xiàn)性度。為了滿(mǎn)足低電源電壓要求,文獻[72]利用體驅動(dòng)MOS管的耗盡特性,設計了一個(gè)具有rail-to-rail共模輸入范圍的1V運放。 體驅動(dòng)技術(shù)只能用于阱內的MOS管,如圖2.2.5所示,可以等效為一個(gè)結型場(chǎng)效應管。



傳統MOS管中,漏電流ID受到柵源電壓VGS控制;阱源電壓也會(huì )影響ID,但只是一個(gè)寄生效應,可用體跨導gmb表征。但是如圖2.2.5所示,如果將VGS固定為一個(gè)能使MOS管導通的直流偏壓VB,信號施加在阱(也被稱(chēng)為體柵極)上時(shí),將得到一個(gè)類(lèi)似于JFET.具體地講,就是利用襯偏效應調節M(mǎn)OS管的閾值電壓VTH,從而達到控制電流ID變化的目的。

體驅動(dòng)MOS管應用于低壓模擬電路設計,主要基于以下優(yōu)點(diǎn):

第 一,它作為一個(gè)耗盡型器件工作,所加的偏壓可為負、零或是一個(gè)很小的正值。這對于電路中器件的閾值電壓V TH將不再有特殊要求,在低壓下電壓擺幅也可以提高,因此工作電壓也幾乎可以下降到極限(對于V TH≈0.8V的器件,最小的工作電壓甚至可為0.9V)。第二,基于較大的電壓開(kāi)/關(guān)比,可利用常規的前柵極來(lái)調節體驅動(dòng)MOS管。

當然,體驅動(dòng)MOS管還有一些缺點(diǎn)不容忽略:首先,從本質(zhì)上,體驅動(dòng)管的體跨導g mb低于常規MOS管的gm(gmb/ gm值 通常在0.2~0.4),因此GBW低,頻率響應低,相應放大器的輸入噪聲也比常規放大器的高;其次,體驅動(dòng)管的極性與制造工藝密切相關(guān),如在P阱工藝 中,只能制得N型體驅動(dòng)MOS管,所以一般不適合用作CMOS電路結構;再者,在不同的阱中制作體驅動(dòng)MOS管,必須將阱隔離;還有,寄生BJT容易導 通,易產(chǎn)生閂鎖(latch-up)效應。

5方案比上面提出的有望在低壓場(chǎng)合獲得應用的低功耗技術(shù),并不是可以無(wú)條件的選擇使用,還要根 據設計要求及所用工藝條件來(lái)判別,表2.1列出了這幾種技術(shù)的性能比較。實(shí)際的模擬電路設計中,可以選擇其中一種合適的方案進(jìn)行功耗優(yōu)化;甚至還可以根據 應用特點(diǎn),將幾種方案有機組合運用。



2.3數?;旌想娐返牡凸脑O計

鑒于越來(lái)越多的混合信號系統的出現,將數字電路和模擬電路分開(kāi)考慮的低功耗設計也受到了挑戰??梢灶A見(jiàn)的是,如果將混合信號電路作為一個(gè)整體,在按傳統方法對數字和模擬部分分別進(jìn)行功耗優(yōu)化后,再進(jìn)行統一的功耗管理,難度將更大,但功耗優(yōu)化的效果也將更明顯。

從 前面的討論可知,在靜態(tài)下數字電路所消耗的功率較小,但是模擬電路為了實(shí)現正常的性能需要足夠大的工作電流,具有相對高的靜態(tài)功耗?;旌闲盘栂到y中,如果 控制暫時(shí)不工作、也不影響整個(gè)系統輸出的模擬電路模塊,通過(guò)犧牲一定的性能來(lái)?yè)Q取功耗的降低,則整個(gè)系統的靜態(tài)功耗將顯著(zhù)減小。這種控制信號可以分為兩 種:一種是外加的數字信號,可以人為地控制模擬電路的工作;另一種則是由內部數字模塊產(chǎn)生,并可以自動(dòng)控制。顯然,后者更簡(jiǎn)單靈活。圖2.3.1給出了混 合信號系統中,由內部數字信號控制模擬電路降低功耗的拓樸圖。



從 圖2.3.1可以看出,和傳統的混合信號電路相比,系統中僅僅增加了一個(gè)控制信號產(chǎn)生電路(Control Signal Generator)和一個(gè)開(kāi)關(guān)(Switch),結構簡(jiǎn)單。電路工作原理如下:利用數字模塊中的內部信號產(chǎn)生一個(gè)控制信號,并通過(guò)一個(gè)開(kāi)關(guān)電路有效地控 制不需要工作的模擬電路模塊。圖2.3.1的另一個(gè)優(yōu)點(diǎn)是電路兼容性好,即可以在不改變原有系統的情況下,增加一些開(kāi)關(guān)和控制信號實(shí)現低功耗。更突出的 是,原先將模擬電路和數字電路中分開(kāi)考慮的功耗優(yōu)化方法仍然適用。

圖2.3.1所示的功耗優(yōu)化是數?;旌闲盘栂到y的動(dòng)態(tài)功耗管理,可以通過(guò)不同的途徑實(shí)現。一種是可以借鑒數字電路中的門(mén)控時(shí)鐘技術(shù)。對于時(shí)鐘控制的硬件單元,將其響應不影響性能的電路工作頻率降低,將能夠節省電路功耗。

由 于這種門(mén)控時(shí)鐘技術(shù)是一種很普遍的數字電路功耗管理方法,所以應用于模擬電路中難度并不大,但是它也只適用于動(dòng)態(tài)模擬電路。還要強調的是,時(shí)鐘門(mén)控不能消 除功耗,如果是本地時(shí)鐘門(mén)控或者時(shí)鐘產(chǎn)生電路一直是工作的,那么時(shí)鐘電路仍然有動(dòng)態(tài)功耗,而且即使時(shí)鐘信號全部暫停,也不能避免泄漏電流所產(chǎn)生的功耗。因 此,如果要達到最小功耗的目標,用這種門(mén)控時(shí)鐘的方法不一定能實(shí)現。另一種方法是,將處于空閑狀態(tài)的電路電源簡(jiǎn)單關(guān)斷,理論上則能夠徹底消除電路的功耗。 這種方法適用面寬,如果采用內部數字信號則實(shí)現相對簡(jiǎn)單,并且對數字電路和模擬電路都有效。但是,這種方法需要重點(diǎn)解決以下問(wèn)題:

① 控制信號的設置。由于可以采用內部數字信號,因此需要決定是否關(guān)斷電路、何時(shí)關(guān)斷、關(guān)斷多久,即動(dòng)態(tài)功耗管理策略將是研究的重點(diǎn)和難點(diǎn)。如何將數字電路的 低功耗設計方法擴展到整個(gè)混合信號系統中,這方面文獻報道較鮮見(jiàn)。而且,所增加的控制信號產(chǎn)生電路會(huì )有額外的功耗,而且其輸出不能夠影響電路的正常工作, 這些在設計時(shí)都需要考慮。

②開(kāi)關(guān)電路的實(shí)現。開(kāi)關(guān)電路可以切斷電源到模擬模塊,或者從模擬模塊到地的電流通路。開(kāi)關(guān)電路的形式有多種,在 數字電路中,可以在輸入端加入鎖存器,來(lái)產(chǎn)生使能信號;而在模擬電路中,提出了所謂系統級的電流控制方法,即設計一個(gè)系統級的電流源,在系統啟動(dòng)時(shí)工作, 將由它產(chǎn)生的電流源/沉配送給系統中的分布式電流源/沉,然后再進(jìn)一步再生和擴展成為模擬電路所需要的電流源/沉。數字電路控制信號通過(guò)控制分布式電流源 /沉的開(kāi)關(guān)狀態(tài),來(lái)控制模擬電路的工作與否。這種系統級電流使能控制電路,不僅增加了電路設計的復雜度和難度,還給數字控制電路提出了更高的要求,僅僅適 用于多種功耗模式的管理系統。

如果采用單個(gè)MOS管充當簡(jiǎn)單的開(kāi)關(guān)電路,它可以作為一個(gè)電流勢壘,由數字電路控制來(lái)控制模擬電路進(jìn)入不工作的狀態(tài)。并且,開(kāi)關(guān)管是在原有模擬電路加上的,能節省附加電路所引起的功耗,因此對于功耗模式較少的系統,單MOS控制管則是一種簡(jiǎn)便有效的方法。

總之,在數?;旌想娐分?,在將數字電路和模擬電路分別進(jìn)行低功耗設計的前提下,再根據負載、電源等,由內部數字電路產(chǎn)生控制信號,靈活地關(guān)斷不工作的模擬電路模塊,將有效地節省混合信號系統功耗。

2.4小結本章對數?;旌想娐返凸乃婕暗姆椒ㄟM(jìn)行了討論和研究。

在 傳統的低功耗設計中,均將數字電路和模擬電路分別考慮。從數字電路中基本的功耗方程出發(fā),總結了影響電路功耗的四個(gè)主要因素;從電路設計的角度,重點(diǎn)討論 了系統結構級、寄存器傳輸級、邏輯/門(mén)級、版圖級的數字電路低功耗設計方法。對模擬電路實(shí)現低功耗的基本限制條件作了討論;分析了設計時(shí)所遇到的實(shí)際限制 條件,并進(jìn)行了數學(xué)推導,給出了噪聲決定的功耗和精度決定的功耗表達式;總結了四種低壓低功耗模擬電路方法,并對亞閾值電路和電流模式電路中,與噪聲和精 度相關(guān)的功耗進(jìn)行了數學(xué)描述,分析比較了四種方案的適用性。

提出了將數字電路和模擬電路協(xié)同考慮的數?;旌想娐返凸耐貥?;提出了在按傳統方法對兩部分分別進(jìn)行功耗優(yōu)化后,再將數字電路的動(dòng)態(tài)功耗管理技術(shù)推廣到整個(gè)混合信號系統,控制關(guān)斷不需要工作的模擬電路模塊;并對控制信號產(chǎn)生電路和開(kāi)關(guān)電路作了分析討論。

本章是以下各章研究的理論基礎。



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