Pit深度超規格碟片的循跡伺服處理方式

引言
     這里以在實(shí)際工作中遇到的Bulk光頭讀Pit深度超規格 碟片時(shí)出現啟動(dòng)NG或啟動(dòng)延遲問(wèn)題為例，通過(guò)分析及實(shí)際 測試

，提出了一種解決此類(lèi)問(wèn)題的方法。


1 問(wèn)題原因分析
1.1  PP-TE伺服方式說(shuō)明
產(chǎn)生問(wèn)題時(shí)bulk光頭采用的伺服方式是PP-TE。PP-TE信 號產(chǎn)生方法利用了光的回折格子的特性，回折格子的特性 是指

： 0次光和 ± 1次之間干涉形成明暗相間的條紋，溝深 λ/4 時(shí)，pit邊沿處形成的回折格子的明暗效果最好。如圖1

所示。
PD上光強分布如圖2。(光點(diǎn)分別在位置①②③時(shí)，對

圖1  回折格子的明暗效果    

圖2  PD上光強分布示意圖  

圖3   伺服信號TE/FE波形圖    

圖4  光路示意圖    

圖5   DPD-TE產(chǎn)生示意
應的PD的示意圖如圖2所示，PP-TE=A-B)。
1.2  PP-TE伺服方式不穩定原因
圖3為光點(diǎn)分別在圖1所示位置①②③時(shí)，對應的PP-TE
的波形示意圖及PP方式下伺服信號波形圖。
在PP方式下，Bulk光頭讀Pit深度超規格CD-ROM，與通 常碟片比較，PP-TE信號的幅值輸出約為正常品的1/2～2/3， FBAL調整后PP-TE信號的TEc變化較大,導致Tracking/seek伺服 控制裕度降低，最終引起啟動(dòng)NG或啟動(dòng)延遲。
2 伺服對策方法
2.1 對策方法概要
首先，對于PP方式下FBAL調整后的TEc變動(dòng)問(wèn)題，對 策方法為FBAL調整后，伺服控制再次對TEc進(jìn)行補償。其 次，對于pit深度超規格CD-ROM的PP-TE方式伺服控制的裕 量 不 足 問(wèn) 題 ， 對
策方法為CD-ROM
啟動(dòng)時(shí)，首先采用 P P (P u s h - p u l l) -T E 伺 服 方 式 ， 然 后 判 斷 TE/A s信 號 幅 值。 如果TE/A S信 號 幅 值 小 于 設 定 的 閥 值 ， T E 伺 服 方 式 變 更 為 D P D ( D i f f e r e n t i a l P h a s e Detection)方式；如 果 T E / A S 信 號 幅 值 大 于 設 定 的 閥 值 ，TE伺服方式仍采用PP方式。當CD-R/RW起動(dòng)時(shí)，仍采用
PP-TE伺服方式。
2.2  DPD-TE方式說(shuō)明
2.2.1 光路示意圖如圖4所示。
2.2.2  DPD-TE產(chǎn)生示意如圖5所示。
圖 6 為 光 點(diǎn) 分 別 在 如 圖 1 所 示 位 置 ① ② ③ 時(shí) ， 對 應 的
DPD-TE的波形示意圖及DPD方式下伺服信號波形圖。
循跡伺服方式變更后，伺服信號變好，Bulk光頭讀Pit 深度超規格CD－ ROM碟片時(shí)不良現象消失， 經(jīng)過(guò)測試確 認，循跡伺服方式變更對其它碟片的讀盤(pán)能力無(wú)影響。

圖6  伺服信號TE/FE波形圖

3 結論
本文針對Bulk光頭讀Pit深度超規格CD-ROM遇到的問(wèn)題，對PP-TE及DPD-
T E 作 了 簡(jiǎn) 要 的 說(shuō) 明 。 希 望 讀 者 能 夠 通 過(guò) 本 文 對 循 跡 伺 服 方 式 P P 、 D P D 有 一 個(gè) 比 較 感 性 的 認 識 ， 從 而 能 夠 在 此 基 礎 上 展 開(kāi) 伺 服 相 關(guān) 的 開(kāi) 發(fā) 工 作 。 在 實(shí) 際 進(jìn) 行 伺 服 開(kāi) 發(fā) 時(shí) ， 除 了 本 文 以 外 還 應 參 考 更 多 的 伺 服相關(guān)資料。