Wi-Fi通信終端的研發(fā)與測試解決方案

圖7 OFDM星座圖提供的信息非常詳盡

星座圖（如圖7所示）能夠提供很多相關(guān)信息用作設計參考，通過(guò)相位、增益和功率壓縮等信息能夠幫助我們縮短產(chǎn)品設計周期和DVT（device verification testing）階段所需的時(shí)間。

如圖7所示，上左圖是一個(gè)理想的OFDM信號星座圖。上右圖給出了I/Q不平衡的情形（兩路基帶調制信號在上變頻之前幅度不一致，EVM變差）。下左圖給出了I/Q非理想正交的情形（兩路基帶信號在上變頻之前沒(méi)有實(shí)現完全正交，星座圖出現扭轉，EVM變差）。下右圖給出了幅值和相位同時(shí)失配的情形。

應用于制造

如前所述，當產(chǎn)品轉入制造測試階段，通常會(huì )假設產(chǎn)品的設計等都沒(méi)有問(wèn)題。很多失效問(wèn)題都來(lái)源于制造而非設計缺陷。因此，軟件不需要提供設計過(guò)程中的測試細節。面向制造測試階段的軟件設計目標是簡(jiǎn)潔的GUI界面和快速的產(chǎn)品測試功能。

適用于制造測試的軟件，GUI界面簡(jiǎn)潔，測試快速。單擊GUI界面中“測試按鈕”啟動(dòng)測試，輸入DUT的MAC地址，軟件開(kāi)始對DUT進(jìn)行測試，最終窗口顯示測試細節和Pass或者Fail。研發(fā)和制造測試平臺采用相同的架構，這樣做的好處是使某些可能在制造過(guò)程中出現的問(wèn)題很容易被追溯到研發(fā)階段，不需要特別復雜的處理。研發(fā)和測試階段采用同樣的VSA和VSG硬件構架和設置，這有利于簡(jiǎn)化問(wèn)題和加快問(wèn)題的解決。

總結

本文介紹的系統測試平臺都是基于LitePoint公司的IQview和IQflex測試平臺，這款面向Wi-Fi的測試產(chǎn)品早已于 2003年被推出。目前，面向Wi-Fi和WiMAX的一個(gè)全新的測試平臺IQmax也已問(wèn)世，它將幫助ODM廠(chǎng)商和大型制造商進(jìn)一步節省產(chǎn)品研發(fā)和制造的時(shí)間與成本。