基于FPGA實(shí)現感性元件電阻測試
引言:
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/201701/337463.htm近期給汽車(chē)電子某廠(chǎng)商做了一套點(diǎn)火線(xiàn)圈測試系統,有一部分是關(guān)于感性線(xiàn)圈電阻測試,具體要求如下:初級電阻 620 mΩ +-50mΩ、次級電阻 9.5 kΩ +-0.9 kΩ、導線(xiàn)電阻 150 mΩ +-50 mΩ。
一、挑戰:
初級線(xiàn)圈電阻較?。╩Ω級),測量過(guò)程中還要考慮導線(xiàn)電阻影響;而次級電阻大(k Ω級),用DMM數字萬(wàn)用表進(jìn)行測試是不錯的方案,但是由于測試設備是放在生產(chǎn)線(xiàn)上,對體積、功耗和可靠性要求很高,NI CompactRIO平臺是非常好的選擇,但是NI CompactRIO電阻測試模塊量程大,不適合小電阻測試。并且由于被測件是感性線(xiàn)圈,通過(guò)恒電流激勵4線(xiàn)制測電阻方式,由于恒電流激勵穩定性問(wèn)題,會(huì ) 使得感性線(xiàn)圈產(chǎn)生感應電動(dòng)勢,對小電阻測試帶來(lái)考驗。
二、方案:
選用NI 9265電流輸出模塊作為電阻測試激勵,通過(guò)4線(xiàn)制來(lái)測量電壓方式來(lái)進(jìn)行電阻測試。為了減小電流激勵不穩定性導致感應電動(dòng)勢產(chǎn)生,帶來(lái)測量誤差的影響,通過(guò)在FPGA用高頻(10k)采樣,然后降采樣到低頻(50-100Hz)模式,濾除感應線(xiàn)圈電動(dòng)勢的影響。
三、具體實(shí)施:
1、 構造浮點(diǎn)濾波器:在DFD設計工具包選擇Multistage Decimation Filter

圖1、DFD構造多級降采樣浮點(diǎn)濾波器
2、 多級降采樣定點(diǎn)濾波器設計

圖2、浮點(diǎn)濾波器量化構造定點(diǎn)濾波器
3、 多級降采樣定點(diǎn)濾波器FPGA實(shí)現

關(guān)鍵詞:
FPGA感性元件電阻測
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