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基于FPGA實(shí)現感性元件電阻測試
作者：
時(shí)間：2017-01-09
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò )
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圖4、通過(guò)定點(diǎn)設計模型生成FPGA代碼
4、 測試驗證
圖5、感性電阻測試FPGA代碼
圖6、未進(jìn)行降采樣濾波電阻測試效果
如圖6所示，起始跳變是由于線(xiàn)圈充電瞬間造成的，但是由于未進(jìn)行由于線(xiàn)圈感應電動(dòng)勢影響所以電阻變化較大，如圖7細化觀(guān)察。
圖7、電阻變化較大
通過(guò)降采樣濾波算法，濾除由于電流不穩定造成的感性線(xiàn)圈產(chǎn)生電動(dòng)勢導致的電阻波動(dòng)誤差，如圖8所示，感應線(xiàn)圈電阻測試穩定，通過(guò)與6位半DMM比較，結果一致。
圖8、通過(guò)降采樣濾波后的電阻測試
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