低電壓檢測IC的復位電路

低電壓檢測IC的復位電路

? 當內建的低電壓復位電路的電壓與應用規格不同時(shí)，可選用外部低電壓檢測IC 的復位電路。
? 可提供低電壓復位功能，需配合外部簡(jiǎn)易型RC 復位電路或高抗干擾RC 復位電路來(lái)達到完整的復位功能。
? RRES、CRES、RN 和CN 的建議數值與簡(jiǎn)易型RC 復位電路及高抗干擾RC 復位電路相同。
? CRES(針對簡(jiǎn)易型RC 復位電路)和CN(針對高抗干擾RC 復位電路)在PCB 板上的位置及布線(xiàn)要求與簡(jiǎn)易型RC復位電路及高抗干擾RC 復位電路相同。

內部POR 電路和內部低電壓復位電路
? 為加強MCU 的保護完整性，并簡(jiǎn)化外部應用電路設計及成本，在MCU 內部提供有上電復位(POR)電路和低電壓復位(LVR)電路。
? POR 電路主要是內建一組低RC 時(shí)間常數的復位電路，具有上電時(shí)產(chǎn)生復位的功能。其對MCU 內部的初始化動(dòng)作，除了TO 和PDF 旗標被清為“0”之外，其余的狀態(tài)均與RES 復位相同。當使用此復位功能時(shí)，因POR 時(shí)間常數較小，為了使POR 可以正常動(dòng)作，電源上升速度應盡量要求快速。
? LVR 電路主要功能是當VDD 小于特定電壓(視規格而定)，且持續時(shí)間大于1ms 時(shí)，LVR 將會(huì )被激活，其對MCU 內部的初始化動(dòng)作與RES 復位相同