用2600系列數字源表進(jìn)行IDDQ測試和待機電流測試

CMOS集成電路(CMOS IC)和電池供電產(chǎn)品的制造商需要測量靜態(tài)(或“待機”)電源電流用于驗證生產(chǎn)測試質(zhì)量。CMOS IC或其中含有CMOS IC成品的漏電電流測量過(guò)程被稱(chēng)為IDDQ測試。此測試要求在IC處于靜態(tài)條件下測量VDD電源電流。測試的目的是檢查柵氧化層短路及可能隨時(shí)間導致IC失效的其它缺陷。同樣地，帶有雙極晶體管的電池供電產(chǎn)品或其它IC的電源電流也可以在靜態(tài)模式下測量。

這些產(chǎn)品類(lèi)型包括便攜式電池供電的消費性電子產(chǎn)品，例如移動(dòng)電話(huà)、尋呼機和筆記本電腦，以及可植入的醫療設備，例如心臟起搏器和除顫器。這些測試的目標是在給定電池充電電平和工作質(zhì)量條件下確保產(chǎn)品滿(mǎn)足消費者對更長(cháng)工作時(shí)間的要求。測試必須盡快完成以確保吞吐量符合要求，而且測試必須全面以確保產(chǎn)品質(zhì)量。

在選擇執行這些測試的測量?jì)x器時(shí)，兩項最重要的考慮是速度和準確度。但是，在測量小電流時(shí)，有時(shí)必須在速度和準確度兩者間做出取舍，所以通常需要用定制硬件完成這些測試。定制硬件的設計時(shí)間可能很漫長(cháng)而且一般不容易維護，而商購的測試系統通常易于使用、容易買(mǎi)到而且節省機架空間。

另一篇吉時(shí)利應用筆記介紹了如何用2400系列源表執行IDDQ測試和靜態(tài)電流測量。本應用筆記介紹了如何用吉時(shí)利最新的2600系列源表實(shí)現上述測試。這種新一代源表的產(chǎn)品系列包括單通道2601和雙通道2602。由于具有內建測試腳本處理器(TSPTM)和新的儀器間通信接口(TSP-LinkTM)，2600系列儀器比前幾代源表的功能更強大和更靈活。吉時(shí)利提供了每秒能執行約2500次IDDQ測量的測試腳本實(shí)例。