中國賽寶實(shí)驗室采用是德科技低頻噪聲測量系統進(jìn)行器件可靠性研究

是德科技公司(NYSE：KEYS)日前宣布，中國賽寶實(shí)驗室在其半導體器件(包括 MOSFET、HEMT 和 TFT等)可靠性研究中成功采用 Keysight EEsof EDA E4727A 先進(jìn)低頻噪聲分析儀(A-LFNA)實(shí)施閃變噪聲(1/f 噪聲)和隨機電報噪聲(RTN)的測量與分析。

Keysight EDA E4727A是一款高性能的噪聲分析儀，可執行快速、精確和可重復的低頻噪聲(LFN)測量。它支持閃變噪聲和隨機電報噪聲的晶圓映射測量和數據分析，并提供可重復和可靠的測量結果，因此特別適合用于半導體材料和集成電路制程的開(kāi)發(fā)、檢驗和監測。

賽寶實(shí)驗室又稱(chēng)中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗研究所，是中國首屈一指的、致力于電子產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性研究的科研機構。作為直接隸屬于中國工業(yè)和信息化部(MIIT)的機構，賽寶實(shí)驗室每年為工信部和地方政府的行業(yè)管理，以及上萬(wàn)家電子信息企業(yè)提供技術(shù)支持和服務(wù)。

賽寶實(shí)驗室高級工程師劉遠博士表示：“我們經(jīng)過(guò)細致的技術(shù)評估后才選擇了是德科技的 E4727A 解決方案。其卓越的性能確保了低系統噪聲下的精確測量，并且擁有業(yè)界最寬的頻率和偏壓測量范圍，支持我們各類(lèi)器件與應用的研究。我們期待與是德科技在校準方法和標準化方面的進(jìn)一步合作。”

Keysight EEsof EDA 器件建模產(chǎn)品經(jīng)理馬龍博士表示：“我們很高興賽寶實(shí)驗室成為我們低頻噪聲測量系統在全球的一個(gè)新的示范點(diǎn)。低頻噪聲是半導體材料和制程中一個(gè)非常敏感和重要的指標，在可靠性、新材料和新型器件的研究中廣泛使用。是德科技致力于通過(guò)增強與包括賽寶實(shí)驗室在內的全球頂尖研究機構以及高校的合作，為相關(guān)的研究工作提供大力支持。”