功率型白光LED器件光色測量方法淺述
隨著(zhù)半導體照明產(chǎn)業(yè)迅速發(fā)展,LED以其飽滿(mǎn)光色、節能、光效高、電壓低、壽命長(cháng)等優(yōu)勢,已成為全球最熱門(mén)、最矚目的光源,特別是近年來(lái)LED的發(fā)光效率和亮度正在大幅度提高,LED必將成為應用最廣泛的照明光源。如今,LED已經(jīng)滲透到了大量的應用場(chǎng)合,尤其是白光LED技術(shù)的不斷進(jìn)步,LED在照明領(lǐng)域的應用也已經(jīng)越來(lái)越普及。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/200144.htm普通照明LED,即白光LED。實(shí)現白光的技術(shù)途徑主要有兩條:第一用LED發(fā)出的藍光激發(fā)熒光粉,再與熒光粉發(fā)出的“黃光”進(jìn)行混光,最終得到白光;第二采用紅、綠、藍三基色LED芯片組合生成白光。
LED是一種能把電能轉化為光能的固體器件,它的結構主要由PN結芯片、電極和光學(xué)系統等組成。LED的基本工作原理是一個(gè)電光轉換過(guò)程,當一個(gè)正向偏壓施加于PN結兩端,由于PN結勢壘的降低,P區的正電荷將向N區擴散,N區的電子也向P區擴散,同時(shí)在兩個(gè)區域形成非平衡電荷的積累。由于電流注入產(chǎn)生的少數載流子是不穩定的,對于PN結系統,注入到價(jià)帶中的非平衡空穴要與導帶中的電子復合,其中多余的能量將以光的形式向外輻射,電子和空穴的能量差越大,產(chǎn)生的光子的能量就越高。能量級差大小不同,產(chǎn)生光的頻率和波長(cháng)就不同,相應的光的顏色就不同。
但是注入LED器件的電能中,僅有約15%的電子和空穴為輻射復合,發(fā)出光子,而大約85%的電能則轉化為熱能。LED的熱性能直接影響其發(fā)光效率、波長(cháng)、正向壓降、反向擊穿電流和器件的使用壽命等。傳統的Φ3mm和Φ5mm的LED器件由于驅動(dòng)電流小、發(fā)熱少,熱性能影響不顯著(zhù)。近年來(lái),隨著(zhù)功率型LED器件的迅速發(fā)展,LED熱性能的影響越來(lái)越明顯,受到人們的普遍關(guān)注。
一、常見(jiàn)LED的光色參數
1.光通量
光通量是光源在單位時(shí)間內發(fā)出的光量,也即輻射功率(或輻射通量)能夠被人眼視覺(jué)系統所感受到的那部分有效當量。光通量的符號為Φ,單位為流明(lm)。根據光譜輻射通量Φ(λ),由下式可確定光通量。

式中V(λ)為相對光譜光視效率,Km為輻射的光譜光視效能的最大值,單位為lm/W,1977年由國際計量委員會(huì )確定Km值為683 lm/W(λm=555nm)。
2.光強度
光源在給定方向上的發(fā)光強度是該光源在該方向的立體角元dΩ內傳輸的光通量dΦ除以該立體角元之商,即

發(fā)光強度的單位是坎德拉(cd),1 cd=1 lm/1sr??臻g各個(gè)方向的光強之和就是光通量。
3.顏色參數
顏色參數主要包括光譜、色品坐標、主波長(cháng)和色純度、色溫和相關(guān)色溫、顯色性和顯色指數等,如圖1所示。

目前已進(jìn)入工業(yè)化生產(chǎn)的“白光”LED,其光譜混合是不均勻的,其顏色分布像光強分布曲線(xiàn)一樣,是隨距離和角度的不同而發(fā)生變化的。
二、 LED熱性能測試的參數及方法難點(diǎn)
LED的熱性能參數主要是指結溫、熱阻、瞬態(tài)變化曲線(xiàn)等。LED的結溫是指PN結的溫度,LED的熱阻一般是指PN結到殼體表面之間的熱阻。結溫是直接影響LED的工作特性的參數,熱阻則是表示LED散熱性能好壞的參數。研究表明,LED的熱阻越低其散熱性能越好,相應的LED光效一般也越高,壽命越長(cháng)。檢測熱學(xué)特性的關(guān)鍵在于對LED結溫的準確測量,現有的對LED結溫的測試一般有兩種方法:一種是采用紅外測溫法測得LED芯片表面的溫度并視其為L(cháng)ED的結溫,但是準確度不夠;另一種是通過(guò)溫度敏感參數(TSP)獲取PN結溫,這是目前較普遍的LED結溫測試方法,其技術(shù)難點(diǎn)在于對測試設備要求較高。
結溫高低對LED的光輸出影響顯著(zhù),溫度越高,被測LED的工作電壓越小,光通量、光功率都逐漸減小。
三、光色測量方法
1.光通量
目前有兩種光通量測量方法,一種是積分球法,一種是分布光度計方法。
積分球法是一種普遍的使用方法,利用LED的前向發(fā)光特性,有些積分球采用2p結構測量。為了消除光譜匹配誤差,采用光譜輻射分析儀作為接收探頭。為了消除結溫變化的影響,采用具有恒溫功能的LED測試座裝夾LED樣品(圖2)。積分球方法測量具有速度快、無(wú)外界雜散光影響等優(yōu)點(diǎn),但是由于積分球內的擋屏、接縫、球壁開(kāi)孔、噴涂效果等因素影響導致積分球響應不均勻,對于測量LED這種窄光束光源不確定度較大。
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