中規模集成電路功能測試儀的設計方案

　　1.3 LM555定時(shí)電路的測試

　　集成定時(shí)電路LM555的應用非常廣，其測試電路如圖4所示。這是一個(gè)典型的定時(shí)電路接法，用于測試內部的2個(gè)比較器和RS觸發(fā)器是否正常，同時(shí)可以測試控制電壓是否正常。

　　單片機輸出1個(gè)負脈沖到LM555芯片的第2引腳，觸發(fā)定時(shí)電路。單片機讀取定時(shí)電路的輸出端信號，確定是否出現相應的上升沿和下降沿，從而可以判斷芯片的功能正常與否。

　　1.4 SG3524的測試

　　SG3524內部方框圖如圖5所示。輸入直流電源UIN從15腳進(jìn)入后分2路：一路作為放大器、比較器、振蕩器以及邏輯電路和控制電路的電源；另一路作為基準電壓源，產(chǎn)生＋5 V基準電壓輸出到16引腳，作為外部電壓基準。在振蕩器部分的引腳7和引腳6上外接定時(shí)電容CT和定時(shí)電阻RT，得到所需的振蕩頻率。SG3524測試原理圖如圖6所示，連接成一個(gè)典型的降壓型開(kāi)關(guān)電源電路，利用誤差放大器構成電壓負反饋。通過(guò)改變取樣比例系數就可以改變輸出電壓，單片機通過(guò)測取引腳3上的脈沖頻率，通過(guò)MAX197測取輸出端的電壓，即可判斷SG3524芯片的好壞。測試中暫時(shí)沒(méi)有考慮過(guò)流保護功能的測試。

　　2 操作和軟件結構

　　測試儀的基本工作流程是：接通電源后，電源指示燈亮，表明電源工作正常，顯示器顯示等待測試信息，表明可以開(kāi)始測試操作。由按鍵1選擇所要測試的芯片，顯示光標停留的芯片型號表示是當前待測芯片。每按1次選擇鍵，光標指向下一個(gè)型號，不斷地按鍵可以循環(huán)選擇。當光標移到所要測試的芯片時(shí)，按下確定鍵2，接下來(lái)由單片機控制，開(kāi)始自動(dòng)測試該芯片，此時(shí)對應該芯片的指示燈亮;然后由外部電路或單片機給待測芯片一定的模擬或數字輸入量，經(jīng)過(guò)每個(gè)芯片的測試電路后，通過(guò)MAX197進(jìn)行處理（或直接送到單片機），與單片機中預存的標準值進(jìn)行比較。如果測試值在標準值附近的一定范圍內，則芯片正常，測試指示燈常亮，液晶顯示器顯示OK；否則，芯片出錯，測試指示燈閃爍，液晶顯示器顯示BAD。此芯片測試完畢，按下復位鍵3，即回到初始狀態(tài)，可以進(jìn)行下一輪測試。軟件流程圖如圖7所示。

　　實(shí)驗樣機經(jīng)老師、學(xué)生使用，測試效果非常理想，測試準確率可達90%以上，給教學(xué)提供了方便。