便攜式產(chǎn)品ESD的測量技術(shù)

電子系統的靜電放電(ESD)魯棒性性能測試通常采用IEC 61000-4-2作為標準。這個(gè)標準定義了每個(gè)電壓等級下的沖擊電流波形、如何校準ESD脈沖源、用于測量的測試環(huán)境、測試通過(guò)與失敗的判據，此外還提供了如何進(jìn)行測試的指南。

但在對電子系統進(jìn)行ESD測試時(shí)，人們并不知道被測單元實(shí)際能承受多大應力沖擊。對在受沖擊情況下沒(méi)有接地的便攜式產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，這點(diǎn)尤其正確。誠然，在便攜式電池供電產(chǎn)品的ESD測試中，測量實(shí)際沖擊電流是有可能的，甚至還可能通過(guò)簡(jiǎn)單地計算，展示如何從測量中獲得額外的信息。

對于小型產(chǎn)品來(lái)說(shuō)，工程師經(jīng)常在專(zhuān)門(mén)的測試環(huán)境中執行系統級ESD測試(圖1)。對IEC 61000-4-2測試而言，這些測試環(huán)境包括：地板上的金屬接地板、木桌、放在桌子上的金屬水平耦合板(到接地板有個(gè)0.95米長(cháng)的連線(xiàn)，在水平耦合板之上的一個(gè)0.5mm絕緣層)。

圖1

這樣的測試環(huán)境必然能實(shí)現可重復的結果。首先，將被測設備(EUT)放在絕緣表面上，然后從不同的方向對EUT施加沖擊。例如，給導電表面施加接觸放電，這些表面包括所有金屬外殼和連接器的接地金屬殼。也可以向四周絕緣表面進(jìn)行空氣放電，并將重點(diǎn)放在可能的ESD路徑上，比如設備外殼中的縫隙以及所有通風(fēng)孔及鍵盤(pán)。

間接放電測試也是工作的一部分，特別是在水平和垂直耦合板上進(jìn)行間接放電，以模擬由相鄰物體中的ESD事件引起的電磁干擾(EMI)效應。對設計師工程師來(lái)說(shuō)，使事情變得更加困難和復雜的是施加到EUT上的實(shí)際沖擊大小在這些測量中并不總是很明顯。

這里用一個(gè)便攜式電池供電的個(gè)人數字助理(PDA)作為例子。首先，向USB端口的金屬接地外殼施加接觸放電模式的沖擊，然后用具有1GHz上限帶寬的變壓器類(lèi)型電流探頭(最好是Fischer Custom Communications公司的F-65A)測量電流，并連接到標準的1GHz帶寬示波器。請注意，探頭內徑需要足夠大，以便適配IEC 61000-4-2兼容ESD qiang的約12mm直徑頭子。

圖2

為簡(jiǎn)化對這個(gè)特殊例子的描述，測量參考基準是直接位于桌面上的0.6平方米接地板，不再使用完整的IEC測試裝置(圖2)。ESD qiang的接地線(xiàn)連接到接地板的一個(gè)角。所有測量都在8kV電壓下進(jìn)行。第一次測量直接到接地板中心。這些測量結果采用擴展時(shí)間刻度。

圖3

在第二次測量過(guò)程中，測試工程師將PDA面朝下放在接地板上，以方便接觸微型USB連接器的金屬屏蔽殼。進(jìn)入PDA的電流遠小于直接注入接地板的電流(圖3)。為進(jìn)一步減小電流，在PDA和接地板之間插入0.9cm的絕緣層。

圖4