蓄電池安全檢測技術(shù)的半荷內阻測量方法介紹
內阻曲線(xiàn)族的實(shí)用意義比電壓曲線(xiàn)族大很多,實(shí)用意義大的關(guān)鍵在于具有實(shí)時(shí)可比性:因為在電壓曲線(xiàn)族中,有比較意義的是各電池到達終止電壓的時(shí)間,在圖1中表現為拐點(diǎn)之間的水平間距。而在內阻曲線(xiàn)族中,有比較意義的是不同放電深度下的不同內阻值,在圖2中表現為某水平值下曲線(xiàn)之間的垂直間距。在測量方法上,前者必須連續不間斷地采樣計時(shí),而后者只需在指定時(shí)間一次采樣,特別是后者在不同時(shí)間下的各組采樣值具有非常有用的比對價(jià)值,即實(shí)時(shí)可比性。本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/194500.htm
如果說(shuō)內阻曲線(xiàn)族還不夠直觀(guān),可以借鑒圖象處理的思路,引入內阻分布“反差”的概念,反差是一種可計算的單一實(shí)時(shí)變量。反差概念的引入,將賦予內阻曲線(xiàn)族比電壓曲線(xiàn)族更為積極的學(xué)術(shù)意義和實(shí)用價(jià)值。
3 電池組放電下內阻分布的反差曲線(xiàn)
在圖象處理中,反差大意味著(zhù)圖象“鮮明”,反差小意味著(zhù)圖象“混沌”。同樣,就電池檢測的目的而言,反差大意味著(zhù)內阻分布“鮮明”,這必然意味著(zhù)判別準確率的提高。
可以把內阻反差Fcr定義為:
Fcr=(Rmax-Rmin)/Rmin(1)
式中:Rmax為內阻分布中的最大值;
Rmin為內阻分布中的最小值。
那么根據圖2粗略計算從0%標稱(chēng)放電深度到60%標稱(chēng)放電深度的各點(diǎn)反差數值列于表1,圖3為依據表1數據繪出的Fcr單一曲線(xiàn),其中表1數據和圖3曲線(xiàn)都停止于60%標稱(chēng)放電深度,原因是模型組中的600A·h單體已達過(guò)放點(diǎn),其真實(shí)荷電率已經(jīng)等于0%。

表1 Fcr逐點(diǎn)計算表

圖3所示的單一Fcr曲線(xiàn)比內阻曲線(xiàn)族更加直觀(guān)的反映了放電深度與內阻反差之間的對應規律:當放電深度超過(guò)最小真實(shí)容量單體的50%(本例已放300A·h)以后,Fcr開(kāi)始迅速增大,并通常在標稱(chēng)放電深度的50%(已放500A·h)處達到最大值。
另外從圖3可以看出,若以足夠判別使用的Fcr值(例如Fcr=1.0)為邊界條件,放電深度的滿(mǎn)足范圍大大放松,這意味著(zhù)完全不需要精確控制放電深度;換句話(huà)說(shuō),在達到一定反差之后,放電深度的大小只影響反差,而不降低準確率。
最后從圖3還可以看出,增強反差后的Fcr所包括的所有放電深度仍離過(guò)放區很遠,這是半荷法比容量放電法安全的科學(xué)依據。
4 半荷內阻法及判別準確率
單從放電內阻曲線(xiàn)族出發(fā),至少可以設計出2種新的測試方法。
4.1 第一種可稱(chēng)為“內阻計時(shí)法”
該方法的思路和容量放電法類(lèi)似,只不過(guò)由對電壓拐點(diǎn)(即終止電壓)的監測計時(shí),改為對內阻拐點(diǎn)的監測計時(shí),由于電壓拐點(diǎn)對內阻拐點(diǎn)存在2倍的依存關(guān)系,把內阻拐點(diǎn)的計時(shí)值簡(jiǎn)單乘以2,就可方便地推算出真實(shí)容量。
該方法的優(yōu)點(diǎn)是:比容量放電法安全,比浮充內阻法準確。
該方法的缺點(diǎn)是:
1)內阻監測點(diǎn)不易把握,而監測點(diǎn)不準依然會(huì )造成誤差過(guò)大甚至誤判;
2)仍然需要對內阻拐點(diǎn)進(jìn)行連續監測和計時(shí),也就是說(shuō),需要研制專(zhuān)門(mén)的內阻監測計時(shí)儀器。
以上2個(gè)缺點(diǎn)都需要在獲取大量實(shí)測數據后方可完善,本文不再深入討論。
4.2 第二種是“半荷內阻法”
該方法的思路是:在電池組粗略地執行半荷放電后,對各單體電池作普通巡采,再依內阻大小作出判斷。
從測試流程來(lái)看,半荷內阻法僅僅增加了半荷放電,其他操作方法和要求與浮充內阻法完全相同。以下分析是哪些因素提高了半荷內阻法的判別準確率:
1)加大了內阻反差增強后的反差使檢測更加容易,也使判讀更加可信??尚蜗蟮匕寻牒煞烹娎斫鉃槟z片照相技術(shù)中的“顯影”過(guò)程,顯然,充分顯影的照片圖象最清晰。
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