一種用于高速高精度ADC的電壓基準源設計

因流入Q3的電流也與溫度無(wú)關(guān),故有:

由于流過(guò)R4和R5的電流INL正比與VNL,故可表示為:

設M1、M2、M3和M4管的寬長(cháng)比一樣,所以,流過(guò)四個(gè)管子的電流相等且都等于:

從式(10)可以看出,式子的第三項用來(lái)消除VEB1的非線(xiàn)性,這樣,結合(6)式可得:

這樣,由(10)式可以得到輸出的基準電壓源為:

2.2 低噪聲箝位運放的設計
在基準源中,箝位運放的主要作用是通過(guò)電流負反饋使與輸入端連接的結點(diǎn)的電壓強制相等,并且與電源電壓無(wú)關(guān)??捎眠\放的輸出對電流源進(jìn)行適當的偏置,使其流過(guò)的電流與輸入電壓無(wú)關(guān),從而使R的電流為PTAT電流。實(shí)際的運放通常會(huì )存在失調電壓、有限增益以及運放噪聲,這些都會(huì )對基準電壓源的性能造成影響,由于基準電壓源一般工作在低頻條件下,因此,對運放的頻率特性要求不高。
本文在設計低噪聲箝位運放的過(guò)程中,重點(diǎn)考慮了以下幾個(gè)因素:
(1)由于運放的兩個(gè)輸入端基本為固定電位,不需要考慮動(dòng)態(tài)范圍,因此,運放的設計不考慮共模輸入范圍;為了保證電路適用于低電源電壓場(chǎng)合,cascode結構不再適合,因此,本文選用普通兩級運放的設計方式;
(2)選用PMOS作為運放的輸入級。因為PMOS的載流子與空穴的遷移率比NMOS的電子遷移率低2~5倍,故可以較大的減小1/f噪聲。同時(shí)由于1/噪聲與MOS管的面積成反比,因此,輸入管的面積需要做的很大;
(3)為了使1/f噪聲最小化,負載晶體管的柵長(cháng)應該比輸入管的柵長(cháng)更長(cháng);
(4)減小箝位運放的帶寬可以有效的減小熱噪聲的影響。
經(jīng)過(guò)仿真可以得到如圖2所示的低噪聲箝位運放的頻率特性曲線(xiàn),該曲線(xiàn)表明箝位運放的開(kāi)環(huán)增益為81dB,單位增益帶寬為139 MHz,相位裕度為61°,失調電壓為0.02 mV,可見(jiàn)該運放能夠滿(mǎn)足系統要求。

評論