基于MSP430單片機的智能阻抗測量?jì)x設計
2 系統硬件設計
測量?jì)x的硬件由MCU模塊、FPGA數據處理模塊、A/D采樣模塊、單端轉差分模塊、測量接入模塊、函數發(fā)生器模塊、鍵盤(pán)模塊、液晶顯示模塊構成,硬件框圖如圖3所示。本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/171157.htm
2.1 系統主控制MCU模塊
儀器的控制核心采用MSP430F4617單片機,該芯片有2個(gè)16位定時(shí)模塊單元,多路12位A/D采樣轉換模塊,12位D/A轉換模塊,多路時(shí)鐘系統,存儲容量大,數量多的I/O口,在整個(gè)系統中是利用率比較高的器件。在系統測量過(guò)程中,首先用于分析測量數據,根據測量值與沒(méi)定參數比較,然后再反饋給控制測量模塊選擇合適R0達到最佳測量狀態(tài)。根據初步測量結果反饋控制函數發(fā)生器以及內部定時(shí)器選擇合適函數頻率,進(jìn)行精確的測量,最終控制液晶顯示器將測量的元件的電學(xué)特性RLC值輸出顯示。
2.2 FPGA數字信號處理模塊
FPGA芯片采用XC3S200A芯片,系統中高速A/D采樣芯片工作頻率較高它的控制時(shí)鐘以及采樣時(shí)序主要由FPGA控制產(chǎn)生,同時(shí)利用FPGA處理數字信號速度快的特點(diǎn)對圖3兩路信號V0,Vx進(jìn)行FFT運算分離出實(shí)部虛部信息,并將數據傳送給單片機。
2.3 A/D采樣模塊
為了減小圖3中2個(gè)模擬輸入信號V0,Vx的相位誤差,系統采用AD7862高速、低功耗、雙核12位模數轉換器(ADC)芯片進(jìn)行采樣。該器件內置2個(gè)4μs逐次逼近型A/D轉換器、兩個(gè)采樣保持放大器、一個(gè)2.5 V內部基準電壓源和一個(gè)高速并行接口,它有4個(gè)模擬輸入組成2個(gè)通道A和B(分別用于采樣V0、Vx信號),每個(gè)通道的兩個(gè)輸入(VA1與VA2或VB1與VB2)可同時(shí)進(jìn)行采樣和轉換,通過(guò)A0(FPGA控制)作為輸入選擇通道,采樣時(shí)序由FPGA提供。
2.4 單端轉差分電路
后級A/D采樣電路需要在差分輸入狀態(tài)下達到最佳采樣精度,所以需要將前級測量模塊產(chǎn)生的V0,Vx差分化預處理,這里采用全差動(dòng)運算放大器THS4503進(jìn)行轉換,THS4503具有非常卓越的線(xiàn)性度,輸出模式可調,電壓工作范圍寬(5V,5V,12V,15V)工作帶寬可達370MHz,轉換速度極快達到2 800 V/s。另外,還需要REF2330芯片為T(mén)HS4503以及A/D采樣模塊提供基準電壓。
2.5 測量模塊
測量模塊是待測元件與標準R0分壓部分,主要包括減法電路求Vx、減法求V0電路以及標準電阻R0選擇電路,如圖4所示。由于圖2中的Vx不便直接測量,所以通過(guò)減法電路來(lái)求Vx。當圖4減法電路求得Vx的同時(shí),也引入了新的環(huán)境變量,因此,使V0也通過(guò)相同的電路環(huán)境以減小系統誤差??梢苑治龅贸?,當圖1中Vx/V0為1:1時(shí)測量精度最高,所以需要調整R0與待測元件的分壓接近1:1來(lái)保證測量精度。標準電阻R0
由MSP430單片機控制的模擬開(kāi)關(guān)CD4051進(jìn)行軟件選擇。
2.6 函數發(fā)生器模塊
在圖1測量原理中,測量是工作在正弦信號的條件下,要保證測量的精度,測量頻率必須保證相當穩定。所以,利用晶體振蕩器振蕩頻率穩定性高的特點(diǎn)來(lái)獲得測量頻率將很好的保證我們測量的穩定性。同時(shí)利用單片機定時(shí)器分頻晶振產(chǎn)生的頻率,可以獲得頻率穩定性高的各種頻率。單片機的定時(shí)器輸出為方波信號,要獲得正弦信號,需要對方波信號進(jìn)行濾波,將方波的中心頻率信號濾出并保證相當的信號強度,因此需要設計一款性能良好的濾波器。此外,設計的濾波器必須有較高的Q值以提高選頻特性。其電路原理如圖5所示。
評論