基于51單片機的鞋套機自動(dòng)測試系統

摘要：設計了上下位嵌入式系統的結構框架，下機位的測試設備模擬產(chǎn)品的實(shí)際工作狀態(tài)，提供通過(guò)原來(lái)由傳感器所獲得的輸入信號，并采集產(chǎn)品上電動(dòng)機的控制信號，分析和判斷這個(gè)信號，將結果傳送到到上位機，由上位機記錄結果，測試系統硬件部分以51系列STC12LC5608單片機為核心，測試系統具有可靠性高、操作界面友好、自動(dòng)化程度強等特點(diǎn)。
關(guān)鍵詞：嵌入式系統；傳感器；單片機；測試系統

隨著(zhù)SMT技術(shù)在計算機、網(wǎng)絡(luò )通信、消費電子以及汽車(chē)電子等產(chǎn)品中的廣泛應用，電子產(chǎn)品的裝配趨于復雜化、高精度化、密集化和多功能化，正確的測試策略可以幫助生產(chǎn)廠(chǎng)家提高效率、制造出合格的產(chǎn)品；同時(shí)，在產(chǎn)品設計、設備投資、制造及質(zhì)量保證過(guò)程中引入測試還能有效地降低成本。因而，測試已經(jīng)成為產(chǎn)品設計制造過(guò)程中的不可或缺的重要環(huán)節。本文主要針對鞋套機控制板電路自動(dòng)測試系統的設計做了詳細的介紹。

1 測試系統的硬件設計
1．1 測試系統的原理框圖
本測試系統分兩大模塊組成：上位機和下位機。上位機主要指的是PC機，在PC機上用VB語(yǔ)言編輯一個(gè)操作界面，操作界面包括有啟動(dòng)命令按鈕、輸入信號的實(shí)時(shí)狀態(tài)、狀態(tài)指示燈、記錄數據窗口。下位機指的主要是一個(gè)檢測電路板和外圍借口設備。檢測電路以51系列的TC12C 5608單片機為核心，其包括通信電路模塊、供電模塊、被測信號采集電路。下位機主要能模擬控制板所需的傳感器信號并采集分析控制板電機的控制信號其硬件原理框圖如圖1所示。

1．2 51系列STC12C5608單片機簡(jiǎn)介
STC12C5608單片機主要性能有以下幾個(gè)方面：高速：1個(gè)時(shí)鐘／機器周期，增強型8051內核，速度比普通51快8～12倍。寬電壓：5．5～3．5 V。低功耗設計：空閑模式，掉電模式。工作頻率：0～35 MHz，相當于普通51：0～420MHz。時(shí)鐘：外部晶體或內部RC振蕩器可選，在ISP下載編程用戶(hù)程序時(shí)設置。片內Flash程序存儲器：30K／28K／24K／20K／16K／12K／8K／4K字節，擦寫(xiě)次數10萬(wàn)次以上。片內RAM數據存儲器：256+512字節。芯片內EEPROM功能。ISP／IAP，在系統可編程／在應用可編程。10位ADC，8通道。4路PWM還可當4路D／A使用。6個(gè)16位定時(shí)器，兼容普通51的定時(shí)器T0／T1，4路PCA也是4個(gè)定時(shí)器?？删幊虝r(shí)鐘輸出功能，T0可在P1．0輸出時(shí)鐘，T1可在P1．1輸出時(shí)鐘。還有硬件看門(mén)狗(WDT)，高速SPI通信端口，全雙工異步串行通信口(UART)，兼容普通51的串口，兼容普通51指令集。25個(gè)通用I／O口，復位后為：準雙向口／弱上拉(普通51傳統I／O口)，可設置成四種模式：準雙向口／弱上拉，僅為輸入／高阻，開(kāi)漏。每個(gè)I／O口驅動(dòng)能力均可達到20 mA，但整個(gè)芯片最大不得超過(guò)55 mA。
1．3 STC12C5608單片機最小系統
所謂最小系統，即能使單片機正常工作的電路設計，通常需要根據單片機資料進(jìn)行合理的配置，實(shí)現單片機的正常運行。最小系統不能實(shí)現單片機各個(gè)模塊的工作，但是能夠通過(guò)外擴達到數據通信，AD轉換等功能的完成。
單片機最小系統包括有：復位電路、晶振電路、單片機，最小系統電路圖如圖2所示。