投影光學(xué)系統的特點(diǎn)
用顯微鏡進(jìn)行觀(guān)測,因不同于人們日常的活動(dòng)姿態(tài),故易引起疲勞。若改成投影方式則可大大減輕疲勞,提高工作效率,還可供多人同時(shí)觀(guān)察,因而投影儀器得到廣泛的應用。投影測量就是將照明后的被測對象(或其中間像)經(jīng)物鏡放大后投影于屏上并進(jìn)行測量??赏ㄟ^(guò)兩種方式進(jìn)行測量:第一種是比較測量,即將標準的物體形狀或尺寸(還可包括其公差帶)按投影物鏡的放大倍數繪制出放在投影屏上,然后與實(shí)際的物體輪廓投影像進(jìn)行比較,觀(guān)察其是否在公差帶內;第二種是以屏上刻制的標志來(lái)對準被測件上的某一標志,然后通過(guò)移動(dòng)工作臺使工件移至屏上的標志對準工件的另一標志,從工作臺上的精密標尺即可讀出工件上這兩個(gè)標志間的尺寸。投影系統具有以下特點(diǎn):
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/167591.htm①由于要對屏上的像進(jìn)行精密測量,因而要求像質(zhì)清晰、畸變小,放大率嚴格準確,這與一般的幻燈投影系統是不同的。
②對于精密測量工作,要求屏上的照度在10~30 lx,且照明均勻。當投影屏較大時(shí),為了滿(mǎn)足這一條件,照明系統是要特別精心設計的。
③采用遠心照明及遠心光路。與顯微系統相同,物鏡采用物方遠心光路可避免由于調焦不準造成的測量誤差。至于照明,當照明光束為會(huì )聚光時(shí),見(jiàn)圖1(a)所示,聚光鏡1將光源S成像于投影物鏡2的入瞳上。移動(dòng)物鏡進(jìn)行調焦,直到屏上獲得清晰的物像,這個(gè)像與照明光束和物體相切的截面共軛。從圖1(a)中可以看出,相切的截面并不是物體的最大輪廓邊緣DD,并且工件直徑不同,被切的截面位置也不同。若被測物體安置成非軸對稱(chēng),則被照明的邊緣不在同一截面上,如圖1(b)所示,測非軸對稱(chēng)零件時(shí)情況與此類(lèi)同。當這兩個(gè)截面間的距離超過(guò)物鏡的景深,則無(wú)法獲得一個(gè)邊緣全部清晰的像,更談不上精確的對準或測量了。只有將燈絲放在聚光鏡的焦面上使照明光束平行于光軸時(shí),才能避免上述缺陷,如圖2所示。從圖中可以看出,不論工件對稱(chēng)或不對稱(chēng)于光軸放置,照明光束總是與最大輪廓相切,屏上的像反映的是物體最大截面的尺寸。實(shí)際光路中,聚光鏡的焦面上可以放燈絲,也可以放被照明的濾色片或毛玻璃。
④工作距離長(cháng)。為操作上方便,投影系統中的工作距離都較長(cháng),若要在投影儀上修正工件,則工作距離還要長(cháng)。
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