基于多MCU的自動(dòng)測試診斷系統的設計
在本文設計的多MCU系統中,各個(gè)MCU的功能如下:本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/162159.htm
(1) 主機MCU的功能
·負責與PC機的通信。通信采用目前流行的USB總線(xiàn)通訊方式,一方面接收來(lái)自于PC機的命令與數據,另一方面向PC機發(fā)送測試數據和自檢信息。
·解釋來(lái)自PC機的命令,并向所有從機或者相應的從機發(fā)送。對來(lái)自PC機的數據進(jìn)行分類(lèi),并發(fā)送給相應的從機。對自身的RAM進(jìn)行自檢。
·負責與四個(gè)從機的通信。通信為多機主-從方式,利用MCU的RxD和TxD端以全雙工UART串行模式進(jìn)行通信,并使用幀錯誤檢測和自動(dòng)地址識別功能。
·管理四個(gè)從機進(jìn)行同步測試。主MCU利用P1口的低四位(P1.4、P1.5、P1.6、P1.7)向四個(gè)從機發(fā)送同步控制信號,使得多個(gè)從機在測試過(guò)程中能夠保持同步性。
(2) 從機MCU1~MCU4的功能
·通過(guò)RxD端口,以串行通信方式接收來(lái)自主MCU的與自己相關(guān)的命令和數據。
·每個(gè)從機的24路I/O端口P0.0~P0.7、P1.0~P1.7和P2.0~P2.7共計96路分別與測試通道Port1~Port96相連接。根據I/O端口的設置情況,向定義的輸出通道輸出測試激勵信號,從相應的輸入通道讀入測試結果并存入相應的RAM單元。
·在被測試電路板的一個(gè)輸出通道測試完畢后,將測試的結果發(fā)送到主MCU的RAM存儲區,并由主MCU發(fā)往計算機。
·負責自身數據存儲區RAM的自檢工作。當接收到主MCU的自檢命令時(shí),對自身的RAM進(jìn)行自檢,并將自檢結果發(fā)送到主MCU。
1.4 測試通道適配接口卡
普通的被測數字電路板是不能直接插到測試平臺的測試接口上的,需要有特制的測試通道適配接口卡才能進(jìn)行連接。本系統提供的接口卡是96路通道的總線(xiàn)結構的接口卡,可與適用于本設計的數字電路板進(jìn)行連接。如果要測試其它類(lèi)型的數字電路板,則需要專(zhuān)門(mén)定做與其配套的測試通道適配接口卡。
2 軟件設計
2.1 測試平臺程序設計
本系統測試平臺程序采用模塊化設計,是基于Keil系統開(kāi)發(fā)軟件和TKS-668開(kāi)發(fā)硬件,采用C語(yǔ)言與匯編語(yǔ)言編寫(xiě)的。模塊化程序設計的思想就是要把一個(gè)復雜的程序按整體功能劃分成若干相對獨立的程序模塊,各模塊可以單獨設計、編程、調試和查錯,然后裝配起來(lái)進(jìn)行聯(lián)調,最終成為一個(gè)有實(shí)用價(jià)值的程序。本系統的測試平臺軟件主要由系統的主程序、通信程序、測試程序和自檢程序等模塊組成。
2.1.1 主程序設計
主、從MCU的主程序設計流程圖分別如圖2、圖3所示。本系統中的四個(gè)從MCU具有相同的功能,因此其主程序設計是一樣的。主、從MCU在初始化中要設置的相關(guān)參數包括:串行口的方式、波特率、定時(shí)器的方式、中斷等。
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