利用頻譜分析來(lái)限制RF功率和寄生噪聲輻射
在固件中,頻譜分析儀將
檢測模式是另一種幅度控制方式,可用于傳統的掃描頻譜分析儀,但不能用于基于FFT的分析儀??煞譃槠胀?、峰值、采樣或負峰值等模式,具體檢測模式?jīng)Q定了頻譜分析儀如何減
少頻譜信息的,或者說(shuō)如何壓縮頻譜信息。
另外它還影響總的功率測量。當頻譜數據點(diǎn)超過(guò)頻譜分析儀所能顯示的點(diǎn)數時(shí),分析儀將從數據減少策略中獲益。這將使檢測模式改變功率測量。
表2:頻譜分析儀測量模式能夠影響功率測量結果
影響精度的因素
頻譜分析儀采用起始和終止頻率之間的頻率掃描。一個(gè)模擬斜坡信號產(chǎn)生該頻率掃描信號,而起始頻率由來(lái)自高精度的時(shí)間基準信號合成。于是,測量精度由模擬斜坡信號和IF濾波器的中心頻率所決定。
基于FFT的分析儀,沒(méi)有這樣的模擬斜坡信號,故沒(méi)有這些因素的限制,從而在整個(gè)測量范圍內具有一致的精度。范圍內的精度則取決于時(shí)基和測量算法,故可以比較容易地獲得頻率精度和重復性。
在傳統型掃描分析儀中,頻率誤差的原因包括基準頻率誤差,頻率范圍精度(范圍的5%)和RBW(RBW的15%)。相應地,在基于FFT的分析儀中的頻率誤差則包括基準頻率誤差和RBW,具體取決于測量算法,變化范圍為RBW的>50%到10%之間。
為了比較這些誤差,就必須忽略基準頻率誤差,這是因為可以使用一個(gè)像銣時(shí)鐘這類(lèi)的精密頻率源來(lái)對其進(jìn)行補償。在掃頻式頻譜分析儀中,當頻率范圍大于 50kHz以及RBW設置超過(guò)1kHz時(shí),測量性能將受到影響,除非采用最優(yōu)化的技術(shù),例如將100MHz的頻率放置到頻率范圍的中心。
如果采用較小的RBW,意味著(zhù)測試時(shí)間的拉長(cháng),這是因為掃描時(shí)間的問(wèn)題,因為通常的頻譜分析儀中需要150-200ms的掃描時(shí)間。測量算法限定了基于FFT的分析儀的測量精度。例如,先進(jìn)的光譜測量分析工具包中采用了內插技術(shù),可實(shí)現比RBW能夠實(shí)現的更高分辨率,就像上述的例子中,RBW設置到2kHz將會(huì )保證更高的精度。
基于FFT的分析儀采用可以實(shí)現精確測量的高RBW設置,即便是沒(méi)有利用精度優(yōu)化的測量技術(shù)。這意味著(zhù)在相同的測試時(shí)間內可以實(shí)現更快和更精密的測量。信號分析儀能夠執行長(cháng)度小于20ms的測試樣本,這比頻譜分析儀高6倍。
除非采用了合適的測量設置,否則即便是對于同一臺測試儀器,也會(huì )導致的測量結果很大變化。因此,深入理解工作原理對正確地設置測量?jì)x器來(lái)說(shuō)是至關(guān)重要的。
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