NI PXI數字化儀和LabVIEW抖動(dòng)分析工具包
—— 增強傳統示波器應用的靈活性和性能
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美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)于近日發(fā)布NI PXIe-5162數字化儀，并更新了LabVIEW抖動(dòng)分析工具包。 該數字化儀帶有10位垂直分辨率和5 GS/s采樣率，它的高速測量垂直分辨率是傳統8位示波器的4倍。 NI PXIe-5162單個(gè)插槽中具備1.5 GHz的帶寬和四個(gè)通道，適用于高通道數數字化儀系統的生產(chǎn)測試、研究和設備特性記述。工程師們因此可以結合使用LabVIEW與數字化儀，以及LabVIEW抖動(dòng)分析工具包中專(zhuān)門(mén)為高吞吐量的抖動(dòng)、眼圖和相位噪聲測量?jì)?yōu)化過(guò)的函數庫，以滿(mǎn)足自動(dòng)化驗證和生產(chǎn)測試環(huán)境所需?！ ?/p>本文引用地址：http://dyxdggzs.com/article/144206.htm
“NI PXIe-5162數字化儀結合了高速、高通道和高分辨率測量三大特點(diǎn)，讓傳統的示波器用戶(hù)突破了使用傳統箱型儀器進(jìn)行自動(dòng)化測試的界限，”NI模塊化儀器研發(fā)總監Steve Warntjes表示。 “使用我們的高速數字化儀與LabVIEW抖動(dòng)分析工具包，可以幫助工程師借助現代PC的處理性能，而不是箱型示波器上傳統的嵌入式處理器，加快測量系統的速度。”
NI PXIe-5162 特性
- 10位垂直分辨率，可更深入地解讀信號
- 單個(gè)3U PXI Express插槽包含4個(gè)通道，在一個(gè)PXI機箱中可擴展至68個(gè)通道
- 一個(gè)通道上5 GS/s的最大采樣率或同時(shí)使用四個(gè)通道，每通道1.25 GS/s采樣率
LabVIEW抖動(dòng)分析工具包特性
- 內置時(shí)鐘恢復、眼圖、抖動(dòng)、電平和時(shí)域測量函數
- 眼圖和掩膜測試的示例程序，以及使用雙狄拉克(dual-Dirac)和基于頻譜的分離方法，進(jìn)行隨機抖動(dòng)和確定性抖動(dòng)(RJ/ DJ)分離的示例程序
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