NI參加2012年汽車(chē)測試及質(zhì)量監控博覽會(huì )
美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)于2012年9月18日至20日參加在上海光大會(huì )展中心舉辦的2012年汽車(chē)測試及質(zhì)量監控博覽會(huì )。在此次汽車(chē)測試與質(zhì)量監控博覽會(huì )上面,NI聯(lián)合多家業(yè)內資深的合作伙伴集中展示了在汽車(chē)領(lǐng)域多項前端應用和解決方案。
本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/137939.htmNI公司的產(chǎn)品幾乎被所有的汽車(chē)OEM與一級供應商所采用。因為具有領(lǐng)先的I/O、靈活的硬件、強大高效的LabVIEW平臺,用戶(hù)可以創(chuàng )建適合多種應用的解決方案。目前,NI的產(chǎn)品涉及了快速控制原型、汽車(chē)終端測試、TEST Cell的測量與控制、硬件在環(huán)、車(chē)載測試與記錄等幾大領(lǐng)域。在此次博覽會(huì )上NI帶來(lái)了下列幾項產(chǎn)品的展示:
· μs級電機高速仿真,為目前最熱門(mén)的新能源汽車(chē)的前期仿真和硬件在環(huán)應用帶來(lái)突破性的進(jìn)展;
· CAN、LIN、FlexRay總線(xiàn)的綜合測試應用;
· DIADem上的碰撞測試與分析
· 以模塊化儀器PXI以及嵌入式平臺CompactRIO為核心的多項應用方案
與此同時(shí),NI攜手幾家業(yè)界資深合作伙伴(北京恒潤科技、蘇州凌創(chuàng )電子、上海聚星儀器和上海其高電子)分別就ECU硬件在環(huán)、汽車(chē)綜合電子系統測試、車(chē)載數據記錄和汽車(chē)NVH測試等等提供了完整的解決方案。展會(huì )現場(chǎng)多家合作伙伴也提供了他們對于整車(chē)廠(chǎng)商和一級供應商提供的成熟解決方案。
除了產(chǎn)品展示之外,在展會(huì )首日應組辦方邀請,NI資深行業(yè)工程師以“NI推動(dòng)汽車(chē)行業(yè)關(guān)鍵應用的發(fā)展”為題作了主題報告,深入分析了當天幾個(gè)熱門(mén)領(lǐng)域話(huà)題,包括新能源汽車(chē)及電氣化、燃油經(jīng)濟性提升、安全性與新26262標準、整車(chē)或發(fā)動(dòng)機臺架測試、及Telematics綜合測試等汽車(chē)電子的幾大發(fā)展趨勢,以及NI對應提供的解決方案。同時(shí)NI的合作伙伴也就他們多年來(lái)在汽車(chē)行業(yè)的應用作了深入介紹。
相信通過(guò)此次博覽會(huì ),客戶(hù)一定可以就NI在汽車(chē)電子測試領(lǐng)域的理念和產(chǎn)品有一個(gè)較全面的了解。
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