NI 發(fā)布《2012年自動(dòng)化測試趨勢展望》

　　新聞要點(diǎn)
　　· 該趨勢展望報告探討了影響當前和未來(lái)的電子行業(yè)的最新商業(yè)策略、架構、計算、軟件和I/O。
　　· 經(jīng)過(guò)多年的自動(dòng)化測試，NI從其商業(yè)關(guān)系、內部專(zhuān)業(yè)知識和第三方研究中吸取經(jīng)驗，并提出了行業(yè)內最新、最為全面的見(jiàn)解。
　　· 報告中著(zhù)重介紹了新興的移動(dòng)設備如何改變行業(yè)架構，公司機構如何通過(guò)建立測試組織來(lái)奠定各自的戰略?xún)?yōu)勢。

　　新聞發(fā)布- 2012年5月- 美國國家儀器公司(National Instruments, 簡(jiǎn)稱(chēng) NI)近日發(fā)布《2012年自動(dòng)化測試趨勢展望》,其中分享了公司對最新測試測量技術(shù)和方法的研究發(fā)現。 該趨勢報告詳細介紹了影響眾多行業(yè)的發(fā)展趨勢，包括消費電子產(chǎn)品、汽車(chē)、半導體，航空航天與國防、醫療設備以及通訊。 工程師和管理人員可從中了解并采用優(yōu)化測試組織的最新策略和最佳方式。

　　2012年趨勢展望報告由5個(gè)類(lèi)別組成： 商業(yè)戰略、架構、計算、軟件和I/O，并探討了以下主要趨勢：

• 測試組織的優(yōu)化: 各個(gè)組織將測試工程視為戰略資產(chǎn)，以在競爭中獲得優(yōu)勢。
• 設計流程中的測量與仿真：將復雜模型與真實(shí)測量結合，提高產(chǎn)品質(zhì)量，縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間。
• PCI Express外部接口: 高速、低延遲PC內部總線(xiàn)擁有新的系統拓撲結構，并增強了外部接口功能。
• 移動(dòng)設備的迅速普及: “智能手機和平板電腦的普及”正改變著(zhù)測試系統控制和監測的方式。
• 便攜的測量算法：全新工具可實(shí)現一次開(kāi)發(fā)測量IP，即可部署至多個(gè)不同的處理單元。

　　《2012年自動(dòng)化測試趨勢展望》的內容源于學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究、用戶(hù)論壇與調查、商業(yè)智能化和用戶(hù)顧問(wèn)委員會(huì )的反饋意見(jiàn)。 該報告以數據為基礎，詳細介紹了下一代技術(shù)趨勢，以此應對測試測量領(lǐng)域的商業(yè)和技術(shù)挑戰。

　　《自動(dòng)化測試趨勢展望》由NI測試行業(yè)領(lǐng)導委員會(huì )編寫(xiě)，NI創(chuàng )立該委員會(huì )，旨在促進(jìn)全球不同行業(yè)內數千家客戶(hù)分享反饋各自的最佳測試測量方法。 NI測試行業(yè)領(lǐng)導委員會(huì )以促進(jìn)測試行業(yè)領(lǐng)導人之間的交流為目標，鼓勵他們提出商業(yè)和技術(shù)的獨到見(jiàn)解。 領(lǐng)導委員會(huì )的活動(dòng)內容包括領(lǐng)導人會(huì )議、同行互通網(wǎng)絡(luò )和技術(shù)交流。