R&S公司推出矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀ZNB

　　使用SET2DIL(單端到差分插入損耗)算法來(lái)驗證印刷電路板(PCB)上高速差分傳輸線(xiàn)的性能。R&S ZNB高性能矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀提供極高的動(dòng)態(tài)范圍和測試精度，極短的掃描時(shí)間和簡(jiǎn)便的操作。同時(shí)，R&S ZNB提高了時(shí)域測試性能，并結合IPC-TM-650認證的SET2DIL技術(shù)，它可以對時(shí)域的反射(TDR)和傳輸(TDT)數據進(jìn)行處理從而得到PCB線(xiàn)的差分插入損耗。

　　介質(zhì)與導體損耗所造成信號衰減與失真是設計與仿真高速差分傳輸線(xiàn)時(shí)最重要的考慮因素。幾GHz傳輸線(xiàn)的插入損耗在建模時(shí)必須正確地仿真其實(shí)際的性能，并在實(shí)際設計時(shí)驗證仿真假設的正確性。

　　創(chuàng )新的SET2DIL算法可以使用兩端口的時(shí)域測量來(lái)實(shí)現四端口頻域測量SDD21。這種方法用單個(gè)探頭通過(guò)測量單端TDR/TDT(兩端口矢網(wǎng))來(lái)獲取差分插入損耗(SDD21)。使用它結合羅德與施瓦茨公司的R&S ZNB，可以取代當前的兩探頭四端口的測量方法。四端口的方法更適合實(shí)驗室環(huán)境。而兩端口方法能夠使SDD21的測量更加簡(jiǎn)單，而被更多用戶(hù)所接受，其中也包括了大批量生產(chǎn)的工廠(chǎng)。

　　“羅德與施瓦茨公司將SET2DIL算法集成到ZNB矢網(wǎng)中，使其能提供無(wú)可比擬的測量精度和速度，從而滿(mǎn)足了大批量的PCB板差損測量的需求。”羅德與施瓦茨矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀產(chǎn)品市場(chǎng)部經(jīng)理Jonathan Leitner說(shuō)。

　　R&S ZNB具備增強因子功能，它可以讓低頻的分析儀替代高頻的分析儀(更昂貴)來(lái)實(shí)現時(shí)域反射(TDR)和時(shí)域傳輸(TDT)的功能。與高頻的設備相比，R&S ZNB可以通過(guò)一個(gè)線(xiàn)性因子在時(shí)域變化中實(shí)現更寬的頻率范圍，并保持原有的掃描范圍，掃描點(diǎn)數不變，而且沒(méi)有其他的附加前提。使用更高的分辨率增強因子，測量的數據會(huì )通過(guò)線(xiàn)性預測的方法對測量數據進(jìn)行插值。因此，時(shí)域上的分辨率得以提高。

　　R&S ZNB矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀可以覆蓋9kHz到4.5GHz或者8GHz，動(dòng)態(tài)范圍可達140dB，401個(gè)掃描點(diǎn)的掃描時(shí)間為4ms，除此之外，他還具有極低的軌跡噪聲和出色的測量穩定度。 R&S ZNB主要面向有源和無(wú)源射頻器件的研發(fā)和生產(chǎn)的測試需求。

　　R&S ZNB矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀還具備超大的觸摸顯示屏可以使用戶(hù)輕易地實(shí)現儀器的功能，而且每個(gè)功能的實(shí)現不超過(guò)三個(gè)操作步驟。屏幕為結果顯示預留的很大的空間，即使是復雜的測量也能獲得清晰直觀(guān)的顯示效果。