NI發(fā)布2011自動(dòng)化測試技術(shù)展望

　　美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI）近日發(fā)布了《2011自動(dòng)化測試技術(shù)展望》，就影響測試測量的技術(shù)與方法發(fā)表了研究結果。該報告所闡述的發(fā)展趨勢覆蓋了消費電子、汽車(chē)、半導體、航空航天、醫療設備和通信等眾多產(chǎn)業(yè)，幫助工程師和企業(yè)管理人員利用最新策略和最佳實(shí)踐案例，優(yōu)化測試組織架構。

　　《2011自動(dòng)化測試技術(shù)展望》以學(xué)術(shù)和工業(yè)研究、網(wǎng)上論壇、問(wèn)卷調查、商業(yè)咨詢(xún)、客戶(hù)反饋等多種形式廣泛進(jìn)行調查，提出了下一代測試測量行業(yè)的發(fā)展趨勢，以應對該行業(yè)所存在的商業(yè)與技術(shù)挑戰。報告從四個(gè)方面進(jìn)行了闡述：

　　-- 測試資源整合：將設計驗證和生產(chǎn)測試的資源整合在一起，需要重視人力資源、流程控制和技術(shù)等方面的革新。

　　-- 系統軟件棧：一個(gè)高度集成的軟件架構可以提升測試性能，并縮短開(kāi)發(fā)時(shí)間時(shí)間。

　　-- 異質(zhì)計算：未來(lái)的測試系統將會(huì )需要不同類(lèi)型的運算節點(diǎn)，來(lái)滿(mǎn)足愈加嚴格的數據分析與處理要求。

　　--IP to the Pin：在設計與測試階段共享FPGA IP可顯著(zhù)縮短對設計進(jìn)行驗證測試的時(shí)間，提高產(chǎn)品測試的效率和故障檢測覆蓋率。