泰克新型邏輯分析儀入選年度Hot100產(chǎn)品

　　泰克公司日前宣布，TLA6000系列邏輯分析儀被EDN雜志評為2010年度Hot100產(chǎn)品。此項殊榮旨在表彰為推動(dòng)電子工業(yè)進(jìn)步做出的貢獻年度最佳產(chǎn)品。

　　本年度Hot100產(chǎn)品由EDN編委會(huì )評選出EDN編輯和讀者公認為電子界最熱門(mén)的新產(chǎn)品。2010年9月推出的TLA6000系列邏輯分析儀以其高性能和高度經(jīng)濟性，為主流嵌入式系統設計人員提供高端調試和分析功能而入選本屆Hot100。

　　“隨著(zhù)信號傳輸速度的加快以及基板密度提高，使嵌入式系統工程師面臨大量信號完整性問(wèn)題，如果不使用具有高端調試功能的工具幾乎不可能完成檢測，”泰克公司邏輯分析儀產(chǎn)品線(xiàn)總監Dave Farrell說(shuō)，“入選本年度Hot100產(chǎn)品表明，TLA6000系列邏輯分析儀以其先進(jìn)的邏輯分析功能，極為經(jīng)濟的價(jià)位滿(mǎn)足實(shí)際的市場(chǎng)需求。”

　　TLA6000 系列邏輯分析儀可配置68、102和136個(gè)數字通道，所有通道定時(shí)分辨率高達125 ps，可實(shí)現高達450 MHz的狀態(tài)采集能力和128 Mb的存儲深度。這種性能水平實(shí)現了性?xún)r(jià)比的重大突破。

　　TLA6000系列通過(guò)多項先進(jìn)的特性提高了工程設計效率，例如，iCaptureTM技術(shù)通過(guò)一只邏輯分析儀探頭同時(shí)提供數字采集和模擬采集，從而無(wú)須進(jìn)行兩次采集。毛刺觸發(fā)和存儲允許用戶(hù)觸發(fā)并顯示觀(guān)測到的信號完整性錯誤，而iViewTM顯示可在同一個(gè)顯示屏上提供邏輯分析儀和示波器數據的時(shí)間相關(guān)的有用視圖。簡(jiǎn)單且直觀(guān)的儀器設置可幫助在繁忙的實(shí)驗室環(huán)境中加快設計過(guò)程，從而節約時(shí)間。

　　TLA6000系列邏輯分析儀適用于各種調試和分析應用，包括信號完整性分析、 現場(chǎng)可編程邏輯門(mén)陣列(FPGA)調試和驗證、移動(dòng)行業(yè)處理器接口(MIPI)協(xié)議分析、存儲系統驗證、嵌入式軟件集成與調試。TLA6000是泰克整個(gè)邏輯分析儀產(chǎn)品線(xiàn)的一員，整個(gè)系列還包括便攜式TLA5000系列、模塊化TLA7000系列，以及TLA7000系列中的TLA7SA00系列邏輯協(xié)議分析儀模塊。