泰克擴展邏輯分析儀家族 推出新型中端產(chǎn)品系列

　　球領(lǐng)先的測試、測量與監測設備供應商---泰克公司日前宣布推出TLA6000系列邏輯分析儀，旨在為主流嵌入式系統設計者提供強大的高端調試與分析能力。TLA6000系列以更低的價(jià)位提供了以前僅在高性能TLA7000系列上才擁有的性能和功能，相對便攜式TLA5000系列型號提供了更多的能力。

　　更高的信號傳輸速率和板卡密度通常會(huì )導致信號完整性問(wèn)題，例如串擾、地面反跳和鳴震，它們通常表現為數字系統的功能故障。TLA6000系列為工程師提供了一套完整的工具，可幫他們快速發(fā)現、隔離和解決這些難以隔離的問(wèn)題。

　　泰克邏輯分析儀產(chǎn)品線(xiàn)主管Dave Farrell說(shuō)：“憑借TLA6000系列，我們擴展了邏輯分析儀產(chǎn)品，同時(shí)為解決復雜的信號完整性問(wèn)題提供了業(yè)界最完整的工具。該系列提供了豐富的功能和特性，最重要的是提供了全面的信號完整性工具、卓越的性能和易用性，例如拖放式觸發(fā)，同時(shí)為數字系統應用如FPGA、DDR和MIPI等提供了先進(jìn)的分析工具。”

　　強大性能滿(mǎn)足苛刻要求的應用

　　TLA6000系列旨在滿(mǎn)足嵌入式系統工程師對于更高性能的需求，該系列包括68、102和136數字通道配置，所有通道上都帶有125 ps高速定時(shí)分析能力，可實(shí)現高達450 MHz的狀態(tài)采集能力和128 Mb的存儲深度。這一性能水平代表了重大的性?xún)r(jià)比突破。

　　TLA6000系列通過(guò)多項先進(jìn)的特性提高了工程設計效率，例如，iCaptureTM技術(shù)通過(guò)一只邏輯分析儀探頭同時(shí)提供數字采集和模擬采集，從而無(wú)須進(jìn)行兩次采集。毛刺觸發(fā)和存儲允許用戶(hù)觸發(fā)并顯示觀(guān)測到的信號完整性錯誤，而iViewTM顯示可在同一個(gè)顯示屏上提供邏輯分析儀和示波器數據的時(shí)間相關(guān)的有用視圖。簡(jiǎn)單且直觀(guān)的儀器設置可幫助在繁忙的實(shí)驗室環(huán)境中加快設計過(guò)程，從而節約時(shí)間。

　　TLA6000系列適用于多種調試和分析應用領(lǐng)域，包括信號完整性分析、FPGA調試和驗證、MIPI協(xié)議分析、存儲系統驗證以及嵌入式軟件集成與調試。