8月問(wèn)世 日置HIOKI首款阻抗分析儀-IM3570

　　概要

　　阻抗分析儀IM3570是實(shí)現了測量頻率4Hz~5MHz的日置首款高精度·高速阻抗分析儀。根據客戶(hù)的用途，可以與原來(lái)本公司的LCR產(chǎn)品一樣選擇將測量值用數值顯示模式來(lái)顯示頻率/電平特性的測量圖表。

　　定位

　　IM3570是類(lèi)似本公司以往產(chǎn)品LCR測試儀3532-50，并較其功能更為強大的產(chǎn)品。特別加強了頻率的掃描測量、高速測量、低ESR測量、DCR的連續測量和測量穩定性，是HIOKI首款能在掃頻測量時(shí)顯示圖表的產(chǎn)品。此外，這款產(chǎn)品的測試速度、操作性、價(jià)格都非常符合現今市場(chǎng)需求，極具行業(yè)競爭性。

　　特點(diǎn)

　　關(guān)于測量精度，特別是低阻抗的操作反復精度比起以往產(chǎn)品都提高了一位，所以比較適合測量多mΩ、低ESR功能性高分子電容。

　　另外，測量時(shí)間最快為0.5ms(100kHz，FAST，顯示OFF時(shí))，所以能夠高速測量共振頻率、發(fā)聲零件、振動(dòng)傳感器等，適合用于生產(chǎn)壓電元件的生產(chǎn)線(xiàn)。

　　最大的優(yōu)點(diǎn)是，與以往產(chǎn)品相比可高速的切換測量條件后進(jìn)行測量。因此，以往的裝備多臺測試儀的系統現在用一臺IM3570就能搞定。比如，測量線(xiàn)圈，DCR測量(電阻計)和1MHz的L-Q值測量(LCR)都可以用IM3570測量。

　　主要應用

　　壓電元件(發(fā)聲零件、濾波器)、高分子電容的生產(chǎn)線(xiàn)上的檢查中，另外頻率掃描測量也可用于電池材料評估等多種用途中。