利用基于PXI Express的NI FlexRIO模塊，滿(mǎn)足自動(dòng)化測試需求

　　自從1997年基于FPGA的可重配置I/O(RIO)產(chǎn)品在NIWeek圖形化系統設計會(huì )議上首次亮相以來(lái)，NI已發(fā)布了多種基于NI RIO技術(shù)的設備，包括NI R系列、CompactRIO以及PXI Express RIO 中頻收發(fā)器。RIO技術(shù)不僅用于控制應用，強大的FPGA功能大大提高了測試吞吐量，使新的測試成為可能，從而增強了自動(dòng)化測試系統。同時(shí)，現成可用的商業(yè)硬件平臺以及LabVIEW為FPGA編程帶來(lái)的簡(jiǎn)化，也大大降低了系統開(kāi)發(fā)難度和成本。

　　圖1：基于高性能FPGA可以實(shí)現高帶寬實(shí)時(shí)頻譜分析儀等強大測試儀器。

　　自動(dòng)化測試應用中的FPGA

　　開(kāi)放式的用戶(hù)可編程FPGA可以用于解決全新的應用挑戰。在FPGA測試技術(shù)的關(guān)鍵應用領(lǐng)域閉環(huán)測試系統中，測試系統必須向被測設備(DUT)提供實(shí)時(shí)反饋，來(lái)模擬真實(shí)世界的狀態(tài)變化，而這就需要使用具有硬件級響應速度的基于FPGA的設備。以RFID標簽測試為例，其測試系統必須模擬RFID讀卡器，以不超過(guò)25 μs的延遲與標簽進(jìn)行協(xié)議交互。有些自動(dòng)化測試系統要求極高的數據處理能力，這也是FPGA的全新應用領(lǐng)域。寬帶實(shí)時(shí)頻譜分析儀需要對采集到的數據進(jìn)行連續傅立葉變換(FFT)，如圖1所示，只有通過(guò)FPGA對信號進(jìn)行協(xié)處理才能滿(mǎn)足這些用戶(hù)自定義分析需求的吞吐量。

　　除了用于閉環(huán)實(shí)時(shí)測試系統的高速響應和增強測試系統的信號處理能力，通過(guò)FPGA還可以實(shí)現自定義的協(xié)議接口、自定義的觸發(fā)控制等功能，從而可以進(jìn)一步提升現有自動(dòng)化測試系統功能。

　　表1：三種基于PXI Express的NI FlexRIO FPGA模塊參數