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BIT技術(shù)在裝備控制系統故障診斷中的應用

作者:崔洪亮 黃華 韋關(guān)潮 劉慶寶 牛萌 楊其 李超 徐利國 蒲源 第二炮兵青州士官學(xué)校 時(shí)間:2010-02-05 來(lái)源:電子產(chǎn)品世界 收藏

  形成關(guān)系知識的規則

本文引用地址:http://dyxdggzs.com/article/105938.htm

  根據A/D板的最小割集和結元器件端電壓異常,用關(guān)系知識的規則步驟分析可得A/D板故障的規則如下:

  Rule1 IF A/D板故障且B1端電壓異常 Then B1壞;

  Rule2 IF A/D板故障且B2端電壓異常 Then B2壞;

  Rule3 IF A/D板故障且B3端電壓異常 Then B3壞;

  Rule4 IF A/D板故障且B4端電壓異常 Then B4壞;

  Rule5 IF A/D板故障且B5端電壓異常 Then B5壞。

  從上面的規則建立過(guò)程可以得出,該方法將故障樹(shù)分析法與專(zhuān)家系統有機結合,使得知識工程師、領(lǐng)域專(zhuān)家、使用維修人員之間的交流與合作更加容易,消除建立知識庫的盲目性,確保了診斷知識的一致性和完備性、高可靠性;將數值計算過(guò)程和符號決策過(guò)程結合在一起,集成了多種形式的知識,有助于實(shí)現診斷的自動(dòng)化和診斷結果更準確可靠。因此,建立合理的裝備控制系統故障樹(shù),將故障樹(shù)轉化為關(guān)系知識,這一過(guò)程是導出專(zhuān)家系統關(guān)系規則(診斷知識)的有效途徑。

  結語(yǔ)

  將BIT用于裝備控制系統,有效地避免異常的發(fā)生,提高控制系統運行的可靠性。BIT技術(shù)簡(jiǎn)化了裝備控制系統地面測試時(shí)需要將設備上所有被測信號通過(guò)眾多的測試電纜引到地面來(lái)檢測的繁瑣,同時(shí)使地面測試設備變得不再龐大、復雜,縮短了裝備測試前的準備工作時(shí)間,滿(mǎn)足了操作人員對裝備快速響應的要求。

  參考文獻:

  [1] 曾天翔. 電子設備測試性及診斷技術(shù)[M]. 北京: 航空工業(yè)出版社, 1996

  [2] Haller K A, Anderson K.Smart Build-in-test(BIT)[J]. IEEE 1985 AUTOTEST-CON, 1985:140-147

  [3] 張寶珍, 曾天翔. 智能BIT技術(shù)[J]. 測控系統, 2008, 19(11):11-14

  [4] 崔洪亮. 數字濾波在測試設備中的應用[J]. 電子產(chǎn)品世界, 2009(5)

  [5] 崔洪亮. 導彈測試設備專(zhuān)家系統的設計與實(shí)現[J]. 電子產(chǎn)品世界, 2009(6)


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