泰克 SuperSpeed 為NEC電子獲得USB 3.0認證

　　全球示波器市場(chǎng)的領(lǐng)導廠(chǎng)商—泰克公司日前宣布，其SuperSpeed USB解決方案為NEC電子符合USB 3.0標準的主機提供信號質(zhì)量監測，該主機是世界首款獲得USB設計者論壇USB 3.0認證的產(chǎn)品。

　　作為設計和生產(chǎn)集成電路的全球領(lǐng)導企業(yè)，NEC電子選擇與泰克合作，驗證其新的硅元件以滿(mǎn)足新興的SuperSpeed USB標準(USB3.0)要求。USB技術(shù)已經(jīng)迅速被公認為連接電腦及外設的行業(yè)標準，與其它先進(jìn)的高速接口如PCI Express 2.0和SATA Gen 3等相比，USB 3.0的性能可以支持高達5Gbps的數據速率，如此高的性能為測試測量帶來(lái)了更復雜的挑戰。為解決這些挑戰，必須使用高性能、高靈活度的測量設備，以及能夠加快和簡(jiǎn)化設計、測量和分析過(guò)程的工具。借助泰克USB 3.0測試解決方案，NEC電子這類(lèi)企業(yè)的工程師們可以對USB設備進(jìn)行檢定、調試和一致性測試，自動(dòng)實(shí)現余量和一致性測試。對關(guān)鍵的USB 3.0接收機余量測試，泰克AWG7122B任意波形發(fā)生器則可提供無(wú)可比擬的信號生成靈活度，可以幫助客戶(hù)更快地把符合USB 3.0標準的產(chǎn)品推向市場(chǎng)。

　　泰克公司技術(shù)解決方案部市場(chǎng)經(jīng)理Dave Slack表示：“泰克一直與NEC電子保持密切合作，共同驗證、測試和調試SuperSpeed USB。今天，我們非常榮幸能為NEC電子的產(chǎn)品開(kāi)發(fā)做出貢獻，從而使其在業(yè)內率先獲得USB 3.0認證。”

　　泰克USB 3.0解決方案

　　泰克SuperSpeed USB一致性測試解決方案基于一整套可提供優(yōu)異的測量性能，滿(mǎn)足高速串行協(xié)議需求的儀器，包括實(shí)時(shí)和采樣示波器、任意波形發(fā)生器等。例如，DSA71254B實(shí)時(shí)示波器提供了高帶寬和低噪聲環(huán)境，可準確地捕獲和分析快速串行信號時(shí)鐘速率。對一致性測試中的眼圖分析和余量測試，匹配的示波器采集系統變得至關(guān)重要。與其類(lèi)似的是，AWG7122B任意波形發(fā)生器提供了復雜的波形，可以模擬傳輸路徑的劣化效應，支持接收機測試。這些硬件工具與專(zhuān)業(yè)應用軟件配合使用，如DPOJET抖動(dòng)和眼圖分析工具、SerialXpress高級抖動(dòng)生成工具和TekExpress™ USB 3.0自動(dòng)一致性測試軟件等，為工程師檢驗和調試設計提供了所需的工具。