該如何避免軌到軌CMOS放大器的不穩定性

　　從數十年前被發(fā)明以來(lái)，MOS晶體管的尺寸已經(jīng)被大大縮小。門(mén)氧化層厚度、通道長(cháng)度和寬度的降低，推動(dòng)了整體電路尺寸和功耗的大大減少。由于門(mén)氧化物厚度的減小，最大可容許電源電壓降低，而通道長(cháng)度和寬度的縮減則縮小了產(chǎn)品的外形并加快了其速度性能。這些改進(jìn)推動(dòng)了高頻率CMOS軌到軌輸入/輸出放大器的性能發(fā)展，以滿(mǎn)足當今系統設計者對于某種新型模擬電路日益增加的需求，這種電路必須能夠以和數字電路同樣低的電源電壓進(jìn)行工作。

　　本應用筆記解答了有關(guān)最新一代CMOS軌到軌放大器的一些獨特問(wèn)題。文章一開(kāi)始大致討論并講述了傳統電壓反饋和電流反饋放大器電路的拓撲，以及導致反饋放大器振蕩的最常見(jiàn)原因。為了方便分析和討論，我們將CMOS軌到軌放大器電路分成4大塊：輸入、中間增益、輸出和反饋網(wǎng)絡(luò )階段。文中將展示每個(gè)階段受頻率影響的增益和相位移，隨后展示并討論一個(gè)包含了所有4大基本電路區塊的完整系統仿真。而第二部分則將展示并討論三種用于解決放大器振蕩問(wèn)題的使用方案的機制、各方面的折衷和優(yōu)勢。

　　電壓反饋放大器

　　圖1展示了一個(gè)EL5157的簡(jiǎn)化方案 - 這是一款非常流行的高帶寬電壓反饋放大器。這一方案采用一個(gè)經(jīng)典的差分輸入階來(lái)驅動(dòng)折疊的Cascode第二階，由第二階在高阻抗增益節點(diǎn)上將輸入階的差分電壓轉換成一個(gè)電流，該電流隨著(zhù)放大器的高電壓增益而實(shí)現。從本質(zhì)上來(lái)講，在高阻抗節點(diǎn)上變成一個(gè)輸出信號的第二階電流源輸出阻抗會(huì )增加任何在信號通道晶體管內產(chǎn)生的電流差距。輸出階是一個(gè)推挽式AB級緩沖器，將高電壓增益緩沖成放大器的單端輸出。

　　圖1：電壓反饋放大器

　　輸出感應

　　感應器是一種阻抗受頻率影響的電子元器件：低頻率時(shí)其阻抗較低，高頻率時(shí)阻抗則升高。“理想的”運算放大器輸出阻抗是零，但在實(shí)際中放大器的輸出阻抗是感應式的，就像感應器一樣會(huì )隨著(zhù)頻率的增加而增加。圖2展示了EL5157的輸出阻抗。利用運算放大器的應用中所經(jīng)常遇到的一個(gè)挑戰，就是驅動(dòng)一個(gè)電容性負載。之所以具有挑戰性，是因為運算放大器的感應輸出會(huì )與電容性負載聯(lián)合生成一個(gè)LC諧振回路拓撲，而在這個(gè)拓撲中電容性負載會(huì )與感應式驅動(dòng)阻抗一起，當反饋圍繞回路關(guān)閉時(shí)造成額外的相位滯后。相位余度的縮小有可能導致放大器的振蕩。在振蕩時(shí)，放大器會(huì )變得非常熱，甚至可能自毀。要解決這一問(wèn)題，有多種非常著(zhù)名的方案。