東芝開(kāi)發(fā)新型128MB電容器DRAM
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東芝公司報告稱(chēng),去年二月份在最尖端半導體電路技術(shù)國際會(huì )議(ISSCC)上東芝公司報告了無(wú)輸出電容器DRAM芯片的設計和模擬效果。在本周舉行的電子裝置國際會(huì )議上,東芝公司展示了這款芯片的運作。聲稱(chēng)是全球最大儲存密度無(wú)輸出電容器DRAM芯片。
無(wú)輸出電容器DRAM芯片是在絕緣薄膜下電池產(chǎn)生的浮體效應取代了電容器使用傳統的DRAM芯片儲存數據。除了東芝公司外,創(chuàng )新硅公司和瑞薩科技公司也宣布了無(wú)輸出電容器DRAM芯片的原型,它們早在2000年就開(kāi)始研究浮體效應電池儲存器。
東芝公司SoC(系統芯片)研究開(kāi)發(fā)中心技術(shù)部門(mén)AMD公司首席專(zhuān)家Takeshi Hamamoto表示,東芝公司開(kāi)發(fā)的128MB儲存容量無(wú)輸出電容器DRAM芯片是目前新產(chǎn)品中儲存密度最大的產(chǎn)品
。他說(shuō):“128MB儲存容量的科技價(jià)值是巨大的,它的設計和開(kāi)發(fā)全部依賴(lài)于實(shí)際應用,如果有必要,在三年內我們將能夠在LSI (大規模集成電路)中使用”。
東芝公司指出,無(wú)輸出電容器DRAM芯片是在六層金屬上采用90納米CMOS制造工藝制作的。電池尺寸為0.17平方微米,大約是傳統DRAM電池面積的一半。
在這款芯片的制作中,東芝公司工程師推出了部署版面與信號線(xiàn)、電源線(xiàn)等銅線(xiàn)最優(yōu)化的電池設計,這些銅線(xiàn)幫助芯片達到 了書(shū)寫(xiě)時(shí)間為10 ns(毫微秒,時(shí)間單位等于1秒的10億分之一),讀取時(shí)間為20ns。
為了全部完成大規模集成電路的開(kāi)發(fā),東芝公司還將繼續在惡劣的運作環(huán)境中對 芯片進(jìn)行測試,進(jìn)一步提高芯片的可靠性。
(摘自http://www.ednchina.com)
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