BOSHIDA 模塊電源高低溫試驗箱測試原理

BOSHIDA   模塊電源高低溫試驗箱測試原理

電源模塊是可以直接貼裝在印刷電路板上的電源供應器，其特點(diǎn)是可為專(zhuān)用集成電路（ASIC）、數字信號處理器 （DSP）、微處理器、存儲器、現場(chǎng)可編程門(mén)陣列 （FPGA） 及其他數字或模擬負載提供供電。一般來(lái)說(shuō)，這類(lèi)模塊稱(chēng)為負載點(diǎn) （POL） 電源供應系統或使用點(diǎn)電源供應系統 （PUPS）。由于模塊式結構的優(yōu)點(diǎn)甚多，因此模塊電源廣泛用于交換設備、接入設備、移動(dòng)通訊、微波通訊以及光傳輸、路由器等通信領(lǐng)域和汽車(chē)電子、航空航天等。

1.低溫工作下限試驗

將受試產(chǎn)品電源置于斷開(kāi)狀態(tài)放入試驗箱內，使箱內溫度降至-25±3℃,達到溫度穩定后，接通電源滿(mǎn)載工作2 h , 在此時(shí)間內，受試產(chǎn)品工作應正常。 切斷交流輸入電源，使受試產(chǎn)品切換到電池供電，工作也應正常。

2.低溫貯存運輸下限試驗

將受試產(chǎn)品電源置于斷開(kāi)狀態(tài)放入試驗箱內，使箱內溫度降至-10±3℃,達到溫度穩定后，存放12 h。

試驗期滿(mǎn)后，使試驗箱內溫度上升至規定的條件，并在此條件恢復2h 。試驗箱內升溫時(shí)間不計入恢復時(shí)間。檢查外觀(guān)應符合要求，然后加電，工作應該正常。

3.高溫工作下限試驗

將受試產(chǎn)品電源置于斷開(kāi)狀態(tài)放入試驗箱內，使箱內溫度降至40±3℃,達到溫度穩定后，接通電源滿(mǎn)載工作2 h , 在此時(shí)間內，受試產(chǎn)品工作應正常。 切斷交流輸入電源，使受試產(chǎn)品切換到電池供電，工作也應正常。

4.高溫貯存運輸下限 試驗

將受試產(chǎn)品電源置于斷開(kāi)狀態(tài)放入試驗箱內，使箱內溫度降至45±3℃,達到溫度穩定后，存放12 h。試驗期滿(mǎn)后，使試驗箱內溫度上升至規定的條件，并在此條件恢復2h 。試驗箱內升溫時(shí)間不計入恢復時(shí)間。檢查外觀(guān)應符合要求，然后加電，工作應該正常。

優(yōu)點(diǎn)

設計簡(jiǎn)單。只需一個(gè)電源模塊，配上少量分立元件，即可獲得電源。

用途廣泛：模塊電源可廣泛應用于航空航天、機車(chē)艦船、軍工兵器、發(fā)電配電、郵電通信、冶金礦山、自動(dòng)控制、家用電器、儀器儀表和科研實(shí)驗等社會(huì )生產(chǎn)和生活的各個(gè)領(lǐng)域，尤其是在高可靠和高技術(shù)領(lǐng)域發(fā)揮著(zhù)不可替代的重要作用。