- 互操作測試(IOT)是多廠(chǎng)商運營(yíng)環(huán)境形成的技術(shù)基礎。只有完成Iu接口的互操作測試,才能保證不同廠(chǎng)家的無(wú)線(xiàn)接入網(wǎng)與核心網(wǎng)的互聯(lián)互通,也只有完成Uu接口的互操作測試,才能保證每一款手機與無(wú)線(xiàn)接入系統之間的互聯(lián)互通
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操作 測試 3G 有效 進(jìn)行 真正 如何
- 用M-LVDS實(shí)現真正多點(diǎn)接口總線(xiàn),多年來(lái),業(yè)界已開(kāi)發(fā)出多種成熟的技術(shù)用于在背板總線(xiàn)上傳輸信號。隨著(zhù)電信和數據通信業(yè)務(wù)量的不斷增長(cháng),數據傳輸速度的不斷提高,一些傳統的單端和發(fā)射極耦合邏輯技術(shù)的局限性越來(lái)越明顯。多點(diǎn)低電壓差分信號(M-LVDS)
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總線(xiàn) 接口 真正 實(shí)現 M-LVDS
- 隨著(zhù)集成電路技術(shù)和工藝的飛速發(fā)展,真正單片化的單片機已經(jīng)成為主流產(chǎn)品。它的絕在部分資源都在單片機芯片內部;過(guò)去需要用外部擴展器件才能實(shí)現的功能,如 ROM、RAM、A/D、D/A、數字量I/O、顯示驅動(dòng)等功能,現在在單
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解析 方案 單片機 單片 真正 集成電路
- Q:為什么其他廠(chǎng)商沒(méi)有蘋(píng)果這樣真正意義上的視網(wǎng)膜(Retina Display)?A:從硬件上來(lái)說(shuō),因為采用了視網(wǎng)膜屏幕,耗電量和對顯示芯片的要求都大有提升,要在同樣的產(chǎn)品體積下塞下更多電池和更棒的芯片又不會(huì )產(chǎn)生散熱
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意義 視網(wǎng)膜 Retina Display 真正 這樣 其他 廠(chǎng)商 沒(méi)有
- 采用FPGA開(kāi)發(fā)真正符合需求的系統,要實(shí)現能夠將所有重要功能集成在單一器件的設計理由很簡(jiǎn)單,因為這樣就能將材料成本、部件庫存及電路板面積減至最低。另外,相較于多芯片解決方案,單芯片方案的功耗也較低,同時(shí)也有助于提高對知識產(chǎn)權的保護。如果
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需求 系統 符合 真正 FPGA 開(kāi)發(fā) 采用
- 影響PFC芯片(6562等系列)的PF值的原因:本人在調試是總是出狀況,不只為何? L6562工作于峰值電流模式,其工作原理為:將輸出電壓反饋結果與檢測到的輸入電壓相乘,以此確定電感電流峰值。由此得到的輸入電流
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真正 原因 PF 芯片 影響 PFC 揭秘
- 以智能型混合信號FPGA開(kāi)發(fā)真正符合需求的系統,要實(shí)現能夠將所有重要功能集成在單一器件的設計理由很簡(jiǎn)單,因為這樣就能將材料成本、部件庫存及電路板面積減至最低。另外,相較于多芯片解決方案,單芯片方案的功耗也較低,同時(shí)也有助于提高對知識產(chǎn)權的保護。如果
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符合 需求 系統 真正 開(kāi)發(fā) 混合 信號 FPGA 智能型
- 要實(shí)現能夠將所有重要功能集成在單一器件的設計理由很簡(jiǎn)單,因為這樣就能將材料成本、部件庫存及電路板面積減至最低。另外,相較于多芯片解決方案,單芯片方案的功耗也較低,同時(shí)也有助于提高對知識產(chǎn)權的保護。如果一項設計功能的精髓能夠深植于單一芯片上,將會(huì )大大增加第三方取得這項設計的困難度。
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符合 需求 系統 真正 開(kāi)發(fā) 混合 信號 FPGA 智能型 數字信號
- 多年來(lái),業(yè)界已開(kāi)發(fā)出多種成熟的技術(shù)用于在背板總線(xiàn)上傳輸信號。隨著(zhù)電信和數據通信業(yè)務(wù)量的不斷增長(cháng),數據傳輸速度的不斷提高,一些傳統的單端和發(fā)射極耦合邏輯技術(shù)的局限性越來(lái)越明顯。多點(diǎn)低電壓差分信號(M-LVDS)
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總線(xiàn) M-LVDS 接口 真正 實(shí)現 可以
- 以全球3%的份額來(lái)斷言中國醫療電子的未來(lái),似乎顯得過(guò)于草率。然而明顯高于全球同類(lèi)市場(chǎng)的18.2%年均復合增長(cháng)率卻著(zhù)實(shí)是個(gè)不小的誘惑。于是國外半導體廠(chǎng)商紛紛加大了投入,期望在潛在的應用領(lǐng)域中搶得頭籌。然而,此
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真正 起來(lái) 才能 何時(shí) 電子 醫療
- 嵌入式測試為串行I/O提供真正的價(jià)值,嵌入式系統中對串行I/O的采用將對如何組建設計團隊和采用什么工具產(chǎn)生影響。我堅信針對這一技術(shù)的嵌入式測試的特殊應用將為開(kāi)發(fā)商帶來(lái)有價(jià)值的幫助。在高速串行領(lǐng)域及以外的其它領(lǐng)域許多其它的可能性都與這一概念相關(guān)。很顯然,隨著(zhù)半導體技術(shù)在復雜度和功能以及速度等方面的不斷發(fā)展,嵌入式測試方案將為系統設計師探究系統提供真正的機會(huì ),不論是硬件還是軟件。
實(shí)現嵌入式測試要求一定的靈活度,以便將全新的測試拓撲架構和新的測試方案整合到一起來(lái)實(shí)現跨度覆蓋到半導體制造商
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真正 價(jià)值 提供 I/O 測試 串行 嵌入式
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