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JTAG接口解讀
- 通常所說(shuō)的JTAG大致分兩類(lèi)，一類(lèi)用于測試芯片的電氣特性，檢測芯片是否有問(wèn)題；一類(lèi)用于Debug；一般支持JTAG的CPU內都包含了這兩個(gè)模塊。一個(gè)含有JTAG Debug接口模塊的CPU，只要時(shí)鐘正常，就可以通過(guò)JTAG接口訪(fǎng)問(wèn)CPU的內部寄存器和掛在CPU總線(xiàn)上的設備，如FLASH，RAM，SOC（比如4510B，44Box，AT91M系列）內置模塊的寄存器，象UART，Timers，GPIO等等的寄存器。 上面說(shuō)的只是JTAG接口所具備的能力，要使用這些功能，還需
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JTAG測試技術(shù)
- 2004年11月JTAG Technology JTAG(聯(lián)合測試行動(dòng)組)標準在80代是通用的。JTAG技術(shù)實(shí)際上稱(chēng)之為IEEE1149.1或邊界掃描，由于電子行業(yè)幾乎每個(gè)人都熟悉“JTAG”這個(gè)名稱(chēng)，所以“JTAG”用來(lái)表示IEEE1149.1技術(shù)。 電路內測試器 測試復雜板的老方法是用電路內測試器(ICT)。這種測試方法的測試頭是用“釘床”(見(jiàn)圖1)，焊節點(diǎn)和遮蓋的焊球使得這種測
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邊界掃描與電路板測試技術(shù)
- 摘 要： 本文論述了邊界掃描技術(shù)的基本原理和邊界掃描在電路板測試及在FPGA、DSP器件中的應用。介紹了為提高電路板的可測試性而采用邊界掃描技術(shù)進(jìn)行設計時(shí)應注意的一些基本要點(diǎn)。關(guān)鍵詞： 邊界掃描測試；JTAG；電路板測試；可測試性設計引言電子器件的生產(chǎn)商和電子產(chǎn)品的制造商都在傾向于采用最新的器件技術(shù)，如BGA、CSP(芯片規模封裝)、TCP(倒裝芯片封裝)和其它更小的封裝，以提供更強的功能、更小的體積，并節省成本。電路板越來(lái)越密、器件越來(lái)越復雜、電路性能要求越來(lái)越苛刻，越來(lái)越難的接入問(wèn)題導致了工業(yè)標準
- 關(guān)鍵字： JTAG 邊界掃描測試 電路板測試 可測試性設計 PCB 電路板
jtag介紹
JTAG是英文“Joint Test Action Group（聯(lián)合測試行為組織）”的詞頭字母的簡(jiǎn)寫(xiě)，該組織成立于1985 年，是由幾家主要的電子制造商發(fā)起制訂的PCB 和IC 測試標準。JTAG 建議于1990 年被IEEE 批準為IEEE1149.1-1990 測試訪(fǎng)問(wèn)端口和邊界掃描結構標準。該標準規定了進(jìn)行邊界掃描所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準后，IEEE 分別于1993 年和 [ 查看詳細 ]
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