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iec class i 文章 進(jìn)入iec class i技術(shù)社區
Keystone I以太網(wǎng)子系統調試手冊
- Keystone I系列芯片(C6670，C6671，C6672，C6674，C6678， TCI6614)的以太網(wǎng)子系統可以劃分為三個(gè)功能實(shí)體：內部Switch(SGMII Serdes/SGMII/EMAC/CPSW)，PA(包加速器)，SA(安全加速器)。該子系統因為包含的子模塊多，相對較為復雜，相關(guān)的四本用戶(hù)手冊?xún)热萁M織并不是很容易理解，不少用戶(hù)在開(kāi)發(fā)過(guò)程中都遇到了一些技術(shù)難題。本手冊總結實(shí)際應用中遇到的部分典型的技術(shù)問(wèn)題和各種問(wèn)題的調試方法，同時(shí)也提供以太網(wǎng)子系統的各種實(shí)用配置和建議。對于具
- 關(guān)鍵字： 德州儀器 Keystone I 以太網(wǎng)
用I/O口模擬IIC總線(xiàn)協(xié)議遇到的一些問(wèn)題
- 最近做的一個(gè)項目，是基于IIC總線(xiàn)通信的傳感器系統。由于另外一個(gè)傳感器使用的是類(lèi)IIC協(xié)議，而不是標準IIC，所以MCU不能與其通信，最后沒(méi)有辦法，只有通過(guò)I/O口模擬的方式實(shí)現IIC的總線(xiàn)通信。具體的程序在我博客里在先前的早些時(shí)候已經(jīng)貼出來(lái)了，如果有興趣的可以查看我的博客。 主要終結一下我在這個(gè)過(guò)程中遇見(jiàn)的問(wèn)題 1、在寫(xiě)完數據(指令或者地址)后 沒(méi)有應答信號 一般開(kāi)始的時(shí)序根據手冊里面的時(shí)序圖很容易可以寫(xiě)出，第一個(gè)沒(méi)有應答，就有可能向從器件寫(xiě)完數據以后。一般這個(gè)時(shí)候主要檢查的是，上
- 關(guān)鍵字： IIC I/O
PLC現場(chǎng)工程師工作指南
- 在我從事自動(dòng)化的職業(yè)生涯近十年的時(shí)間里，我發(fā)現現場(chǎng)調試的工程師的能力和工作水平的高低，對于一個(gè)項目的成敗是最關(guān)鍵的因素。但許多工程師在趕赴現場(chǎng)執行任務(wù)前，缺乏必要的心理準備和技術(shù)準備，因此，到現場(chǎng)后根本無(wú)法發(fā)揮自己的能力。因此，在這里把自己的一些體會(huì )寫(xiě)出來(lái)，希望能夠對所有的技術(shù)工程師有一些啟發(fā)。 一、出發(fā)前的準備 從事PLC的技術(shù)支持的人，如果是要到現場(chǎng)開(kāi)始進(jìn)行系統調試，無(wú)論是對OEM客戶(hù)，還是對一個(gè)過(guò)程控制的系統集成，都要在事先做好一些準備工作。就像一個(gè)“驢友”出
- 關(guān)鍵字： PLC I/O
【E問(wèn)E答】如何降低數模設計過(guò)程中的數模干擾？
- 數模設計過(guò)程中要避免照搬經(jīng)驗和規則，但要徹底講清這個(gè)問(wèn)題，首先要明白數模干擾的機理，數字對模擬的影響可以分為以下兩種情況：串擾和共阻抗耦合。 1、串擾 串擾一般是通過(guò)數字與模擬信號線(xiàn)間的分布參數相互影響，不過(guò)這個(gè)問(wèn)題至少目前已經(jīng)不是很突出了。因為數字信號要布置在數字區域，模擬信號要布置在模擬區域，空間上都已經(jīng)做了隔離，因此風(fēng)險也減少了。 2、共阻抗耦合 公共阻抗耦合是指由于騷擾源與敏感部位共用一個(gè)線(xiàn)路阻抗而產(chǎn)生的。當數字信號與模擬信號共地時(shí)，由于地線(xiàn)在高頻時(shí)存在一定的阻抗，因此
- 關(guān)鍵字： 阻抗 I/O
單片機學(xué)習之五：基本I/O口試驗-點(diǎn)亮二極管
- 實(shí)驗一、基本I/O口試驗：點(diǎn)亮二極管 1、 試驗現象： 8個(gè)二極管間隔發(fā)光。 2、 試驗目的： 了解最簡(jiǎn)單的單片機程序的編寫(xiě)方法; 了解單片機I/O口驅動(dòng)二極管的方法 3、 試驗任務(wù)分析： 要想讓二極管按照我們的要求發(fā)光，首先要搞清楚電路的連接形式，我們先只看和這部分內容有關(guān)的電路。當JMP0跳線(xiàn)接在12位置時(shí)(選通二極管顯示)，電路如下圖所示： 下面，我分別把單片機各管腳功能作一簡(jiǎn)單解釋?zhuān)? XTAL1和XTAL2端：
- 關(guān)鍵字： I/O 二極管
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