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用PLD簡(jiǎn)化邊界掃描測試
- 引言 隨著(zhù)JTAG標準IEEE1149.1的定型，及隨后開(kāi)始在集成電路Intel 80486中采用，邊界掃描測試已被廣泛應用于測試印刷電路板的連接，以及在集成電路內進(jìn)行測試。邊界掃描測試受到設計人員的歡迎，因為它能夠在線(xiàn)測試，而無(wú)需昂貴的釘床在線(xiàn)測試設備。然而，在大的電路板上，邊界掃描鏈路很長(cháng)，電路板設計人員面臨著(zhù)多種挑戰，諸如故障檢測和隔離、測試時(shí)間、物理布線(xiàn)，同時(shí)還要管理偏移，電壓轉換和滿(mǎn)足各種特殊需要。傳統上使用ASSP來(lái)應對這些挑戰，然而基于A(yíng)SSP的解決方案更為昂貴，有固定的電平和一些
- 關(guān)鍵字： 萊迪思 PLD
萊迪思推出針對MachXO和ispMACH 4000ZE PLD而優(yōu)化的參考設計
- 萊迪思半導體公司今天宣布已經(jīng)推出了針對MachXO™和ispMACH® 4000ZE PLD而優(yōu)化的超過(guò)90個(gè)參考設計。參考設計能夠幫助設計人員快速和高效地進(jìn)行設計，并能有效使用這些常用功能，諸如通用I/O擴展、I2C總線(xiàn)主/從、LCD控制器、SD閃存控制器，以及其他接口，這些功能廣泛地用于各種市場(chǎng)，包括消費、通訊、計算機，工業(yè)和醫療等。這些參考設計與完整的文檔和設計源代碼結合在一起完全可以適應客戶(hù)的需求，使設計人員縮短設計時(shí)間，提高工作效率并加快產(chǎn)品的上市。 &ldqu
- 關(guān)鍵字： 萊迪思 參考設計 PLD
使用PLD的三相正弦波電壓發(fā)生器的電路設計
- 使用本設計實(shí)例中的電路可以開(kāi)發(fā)并實(shí)現一臺輕型、無(wú)噪聲、廉價(jià)的三相、60Hz正弦波電壓發(fā)生器。盡管其目...
- 關(guān)鍵字： PLD 正弦波發(fā)生器
NU HORIZONS ELECTRONICS成為萊迪思半導體全球代理商
- 萊迪思半導體公司今日宣布Nu Horizons Electronics Corp. 即日起將在全球范圍內代理萊迪思的全部產(chǎn)品。Nu Horizons目前在整個(gè)亞太地區代理萊迪思產(chǎn)品。 Nu Horizons全球代理部總裁Kent Smith 表示：“Nu Horizons Electronics 非常高興能與萊迪思一起拓展全球業(yè)務(wù)。萊迪思是全球領(lǐng)先的FPGA、PLD、可編程時(shí)鐘和電源管理器件、軟件設計工具和IP核供應商之一，并且我們的全球銷(xiāo)售和工程師團隊對于可編程邏輯技術(shù)非常了解。萊
- 關(guān)鍵字： 萊迪思 FPGA PLD 可編程時(shí)鐘 電源管理器件
賽靈思傾力打造差異化消費電子產(chǎn)品
- 市場(chǎng)前景 賽靈思過(guò)去10多年以來(lái)一直致力于為大批量消費產(chǎn)品市場(chǎng)提供可編程邏輯器件 (PLD)。消費電子不僅是目前公司最大批量市場(chǎng)，同時(shí)消費電子產(chǎn)品為新一代賽靈思 FPGA 和目標設計平臺的不斷發(fā)展提供了重大市場(chǎng)機遇。據 IC Insights 預測，消費 IC 市場(chǎng)的銷(xiāo)售規模到 2012 年將達到 510 億美元，年均復合增長(cháng)率 (CAGR) 高達 16%(見(jiàn)圖 1)。 隨著(zhù)市場(chǎng)對性能更出色、外形更小巧、更綠色環(huán)保產(chǎn)品的需求日益增長(cháng)，眾多消費電子產(chǎn)品公司面臨著(zhù)嚴峻的挑戰。它們需要在競爭
- 關(guān)鍵字： Xilinx PLD 消費電子
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