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提高信號完整性的秘密武器：實(shí)時(shí)示波器測試TDR阻抗的全新方案
- _____現代電路設計和信號傳輸無(wú)疑對工程師提出了越來(lái)越高的要求。隨著(zhù)傳輸速率不斷攀升，信號完整性問(wèn)題成為了影響系統性能的關(guān)鍵因素。而要確保信號完整性，阻抗匹配是不可或缺的一部分。TDR（時(shí)域反射技術(shù)）是一種通過(guò)觀(guān)察傳輸線(xiàn)中反射信號來(lái)測量阻抗特性的技術(shù)。這種方法的優(yōu)勢在于能夠快速、準確地檢測出傳輸線(xiàn)中的不連續點(diǎn)，如阻抗不匹配、開(kāi)路和短路等。對于高速電路設計而言，TDR已成為必不可少的工具。TDR測試的新選擇在這種背景下，泰克推出一套基于實(shí)時(shí)示波器的TDR（時(shí)域反射）阻抗測試方案，讓工程師們輕松應對阻抗匹配
- 關(guān)鍵字： 信號完整性 示波器 TDR 泰克
是德科技新的實(shí)施法使用 ENA 網(wǎng)絡(luò )分析儀進(jìn)行 USB C 型? 連接器-電纜組件一致性測試
- 是德科技公司日前宣布推出新的實(shí)施法(MOI)文件，它是根據 USB C 型規范 1.1 和 USB C 型一致性測試規范(CTS)1.0 執行電纜和連接器組件一致性測試的指南。USB C 型實(shí)施法(MOI)通過(guò)結合是德科技狀態(tài)文件，可以使用 ENA 系列網(wǎng)絡(luò )分析儀的增強時(shí)域分析選件(E5071C-TDR)對 USB C 型電纜和連接器組件執行一致性測試。該實(shí)施法為時(shí)域和頻域測量過(guò)程中提供逐步指南，可以顯著(zhù)簡(jiǎn)化 USB C 型電纜-連接器一致性測試的設置和實(shí)施。作為是德科技 C 型整體解決方案的一部分，
- 關(guān)鍵字： 是德科技 ENA-TDR
矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀E5071C的TDR測量性能介紹
- 最近幾年隨著(zhù)多Gbps傳輸的普及，數字通信標準的比特率也在迅速提升。例如， USB 3.0的比特率達到 5 Gbps。比特率的提高使得在傳統數字系統中不曾見(jiàn)過(guò)的問(wèn)題顯現了出來(lái)。諸如反射和損耗的問(wèn)題會(huì )造成數字信號失真，導致
- 關(guān)鍵字： E5071C TDR 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀 測量
利用TDR (時(shí)域反射計)測量傳輸延時(shí)
- 利用TDR (時(shí)域反射計)測量傳輸延時(shí)隨著(zhù)時(shí)鐘速率的提高，利用高速示波器有源探頭測量延時(shí)的傳統方法很難獲得 ...
- 關(guān)鍵字： TDR 時(shí)域反射計 測量
開(kāi)關(guān)電源傳導EMI預測方法研究
- 1引言隨著(zhù)開(kāi)關(guān)頻率的提高以及功率密度的增加，開(kāi)關(guān)電源內部的電磁環(huán)境越來(lái)越復雜，其電磁兼容問(wèn)題成...
- 關(guān)鍵字： 開(kāi)關(guān)電源 傳導EMI PCB TDR
網(wǎng)絡(luò )分析儀與采樣示波器TDR的優(yōu)勢比較
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
- 關(guān)鍵字： 矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀 采樣示波器 TDR 測量性能
基于矢量網(wǎng)絡(luò )分析儀E5071C的TDR與傳統采樣示波器T
- 最近幾年隨著(zhù)多Gbps傳輸的普及，數字通信標準的比特率也在迅速提升。例如， USB 3.0的比特率達到 5 Gbps。比特率的提高使得在傳統數字系統中不曾見(jiàn)過(guò)的問(wèn)題顯現了出來(lái)。諸如反射和損耗的問(wèn)題會(huì )造成數字信號失真，導致
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