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如何才能獲得ADC的最佳SNR性能?

  • 獲得ADC的最佳SNR性能并不僅僅是給ADC輸入提供低噪聲信號的問(wèn)題,提供一個(gè)低噪聲基準電壓是同等重要。雖然基準噪聲在零標度沒(méi)有影響,但是在全標度,基準上的任何噪聲在輸出代碼中都將是可見(jiàn)的。對于某個(gè)給定的ADC,在零標度測量的動(dòng)態(tài)范圍(DR)之所以通常比在全標度或接近全標度測量的信噪比(SNR)高出幾個(gè)dB,原因即在于此。在A(yíng)DC的SNR有可能超過(guò)140dB的過(guò)采樣應用中,提供一個(gè)低噪聲基準電壓是特別重要。如欲實(shí)現這種水平的SNR,即使是最好的低噪聲基準也需要一些幫助以降低其噪聲電平。能夠降低基準噪聲的替
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RF ADC為什么有如此多電源軌和電源域?

  • 在采樣速率和可用帶寬方面,當今的射頻模數轉換器(RF ADC)已有長(cháng)足的發(fā)展,其中還納入了大量數字處理功能,電源方面的復雜性也有提高。那么,RF ADC為什么有如此多不同的電源軌和電源域?為了解電源域和電源的增長(cháng)情況,我們需要追溯ADC的歷史脈絡(luò )。早期A(yíng)DC采樣速度很慢,大約在數十MHz內,而數字內容很少,幾乎不存在。電路的數字部分主要涉及如何將數據傳輸到數字接收邏輯——專(zhuān)用集成電路 (ASIC) 或現場(chǎng)可編程門(mén)陣列 (FPGA)。用于制造這些電路的工藝節點(diǎn)幾何尺寸較大,約在180 nm或更大。使用單電壓
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模擬 ADC 的前端

  • ADC 的 SPICE 模擬反復試驗的方法將信號發(fā)送到 ADC 非常耗時(shí),而且可能有效也可能無(wú)效。如果轉換器捕獲電壓信息的關(guān)鍵時(shí)刻模擬輸入引腳不穩定,則無(wú)法獲得正確的輸出數據。SPICE 模型允許您執行的步是驗證所有模擬輸入是否穩定,以便沒(méi)有錯誤信號進(jìn)入轉換器。讓我們仔細看看典型的串行偽差分 SAR-ADC,例如ADS8860(圖 1)。圖 1 ADS8860 是一款偽差分輸入、1 MHz、16 位 SAR-ADC。該設備的 TINA-TI Spice 宏模型允許您模擬進(jìn)入轉換器的模擬信號的影響。借助此模
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如何在速度更快、尺寸更小的應用中精確檢測電機位置

  • 本文介紹工業(yè)自動(dòng)化領(lǐng)域的設計人員在設計用于電機控制的位置檢測接口時(shí)面臨的常見(jiàn)問(wèn)題,即在速度更快、尺寸更小的應用中檢測位置。利用從編碼器捕獲的信息以便精確測量電機位置對于自動(dòng)化和機器設備的成功運行很重要,快速、高分辨率、雙通道同步采樣模數轉換器(ADC)是此系統的重要組件。位置、速度和方向之類(lèi)的電機旋轉信息必須準確,以為各種新興應用生產(chǎn)精準的驅動(dòng)器和控制器,例如,將微型組件裝配到空間有限的PCB區域中的裝配機器。近來(lái),電機控制開(kāi)始走向微型化,使得醫療健康行業(yè)出現新的外科手術(shù)機器人應用,航空航天和防務(wù)領(lǐng)域出現
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如何通過(guò)集成多路復用輸入ADC搞掂空間受限的挑戰?

  • 工業(yè)、儀器儀表、光通信和醫療保健行業(yè)有越來(lái)越多的應用開(kāi)始使用多通道數據采集系統,導致印刷電路板 (PCB) 密度和熱功耗方面的挑戰進(jìn)一步加大。這些應用對高通道密度的需求,推動(dòng)了高通道數、低功耗、小尺寸集成數據采集解決方案的發(fā)展,還要求精密測量、可靠性、經(jīng)濟性和便攜性。系統設計人員在性能、熱穩定性和PCB密度之間進(jìn)行取舍以維持較佳平衡,并且被迫不斷尋找創(chuàng )新方式來(lái)解決這些挑戰,同時(shí)要將總物料 (BOM) 成本降低較低。本文重點(diǎn)說(shuō)明多路復用數據采集系統的設計考慮,并聚焦于通過(guò)集成多路復用輸入ADC解決方案來(lái)應對
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高速ADC基礎

  • 本文的目的是介紹高速ADC相關(guān)的理論和知識,詳細介紹了采樣理論、數據手冊指標、ADC選型準則和評估方法、時(shí)鐘抖動(dòng)和其它一些通用的系統級考慮。另外,一些用戶(hù)希望通過(guò)交織、平均或抖動(dòng)(dithering)技術(shù)進(jìn)一步提升ADC的性能。1. 引言基本的ADC框圖和術(shù)語(yǔ)如下圖所示:隨著(zhù)數字信號處理技術(shù)和數字電路工作速度的提高,以及對于系統靈敏度等要求的不斷提高,對于高速、高精度的 ADC(Analog to Digital Converter)、DAC(Digital to Analog Converter)的指標
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天天在用的ADC,內部原理你了解嗎?

  • 前言用了這么久ADC,從沒(méi)細看過(guò)ADC的內部原理和如何獲得最佳精度,今天看到一篇ST的官方文檔講的不錯,這里整理分享給大家。SAR ADC內部結構STM32微控制器中內置的ADC使用SAR(逐次逼近)原則,分多步執行轉換。轉換步驟數等 于A(yíng)DC轉換器中的位數。每個(gè)步驟均由ADC時(shí)鐘驅動(dòng)。每個(gè)ADC時(shí)鐘從結果到輸出產(chǎn)生一 位。ADC的內部設計基于切換電容技術(shù)。下面的圖介紹了ADC的工作原理。下面的示例僅顯示了逼近的前面幾步,但是該過(guò)程會(huì )持續到LSB為止SAR切換電容ADC的基本原理(10位ADC示例)帶數字
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詳解Σ-Δ型ADC拓撲結構的基本原理

  • Σ-Δ型ADC是當今信號采集和處理系統設計人員的工具箱中必不可少的基本器件。本文的目的是讓讀者對Σ-Δ型號ADC拓撲結構背后的根本原理有一個(gè)基本了解。本文探討了與ADC子系統設計相關(guān)的噪聲、帶寬、建立時(shí)間和所有其他關(guān)鍵參數之間的權衡分析示例,以便為精密數據采集電路設計人員提供背景信息。它通常包括兩個(gè)模塊:Σ-Δ調制器和數字信號處理模塊,后者通常是數字濾波器。Σ-Δ型ADC的簡(jiǎn)要框圖和主要概念如圖1所示。圖1. Σ-Δ型ADC的關(guān)鍵概念Σ-Δ調制器是一種過(guò)采樣架構,因此,我們從奈奎斯特采樣理論和方案以及過(guò)采
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如何為ADC增加隔離而不損害其性能呢?

  • 對于隔離式高性能ADC,一方面要注意隔離時(shí)鐘,另一方面要注意隔離電源。SAR ADC傳統上被用于較低采樣速率和較低分辨率的應用。如今已有1 MSPS采樣速率的快速、高精度、20位SAR ADC,例如 LTC2378-20 ,以及具有32位分辨率的過(guò)采樣SAR ADC,例如 LTC2500-32 。將ADC用于高性能設計時(shí),整個(gè)信號鏈都需要非常低的噪聲。當信號鏈需要額外的隔離時(shí),性能會(huì )受到影響。關(guān)于隔離,有三方面需要考慮:■ 確保熱端有電的隔離電源■ 確保數據路徑得到隔離的隔離數據■ ADC(采樣時(shí)鐘或轉換
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輕松簡(jiǎn)化模擬輸入模塊設計的系統級ADC

  • 為了節省成本,另一種方法是使用單個(gè)5V 電源設計架構。單個(gè)5V電源軌顯著(zhù)降低了模擬前端隔離電源設計的復雜性。但它會(huì )引入其他痛點(diǎn),可能降低測量解決方案的精度。AD4111 進(jìn)行了電壓和電流測量所需的大量整合工作,并解決了5V 電源解決方案的局限性。圖1. AD4111功能框圖。集成前端AD4111是一款24位∑-Δ型ADC,通過(guò)實(shí)現創(chuàng )新而簡(jiǎn)單的信號鏈,縮短了開(kāi)發(fā)時(shí)間,降低了設計成本。它利用ADI的專(zhuān)有iPassives?技術(shù),將模擬前端和ADC融合在一起。這使得 AD4111 能夠接受 ±10 V 電壓輸入
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看高度集成的 ADC 如何簡(jiǎn)化現實(shí)世界信號的轉換

  • 數據轉換器就像一個(gè)小小的奇跡發(fā)生器,它將現實(shí)世界中的信號轉換為數字表達,然后以高效且抗噪的方式傳輸、處理并存儲。這些轉換器花樣繁多,而且應用范圍廣泛,從音頻處理到科學(xué)儀器,再到圖像掃描儀。本文將簡(jiǎn)要介紹模數轉換器 (ADC),并探討如何利用 MDC91128 這樣的高度集成解決方案來(lái)改進(jìn)要求快速、高分辨率成像的 X 射線(xiàn)掃描應用。模數轉換器 (ADC)模數轉換器 (ADC) 可以將連續模擬輸入信號轉換為離散的數字信號,并以一序列 1 和 0 的形式進(jìn)行傳送。這些輸入信號被量化為數字格式后,再進(jìn)一步處理或傳
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KWIK電路常見(jiàn)問(wèn)題解答

  • 常見(jiàn)問(wèn)題解答:為15Msps 18位ADC設計輸入驅動(dòng)器時(shí)應該考慮哪些因素簡(jiǎn)介ADC驅動(dòng)器是數據采集信號鏈設計的關(guān)鍵構建模塊。ADC驅動(dòng)器用于執行許多關(guān)鍵功能,如輸入信號幅度調整、單端至差分轉換、消除共模偏移,并經(jīng)常用于實(shí)現濾波。本技術(shù)訣竅與綜合知識(KWIK)電路常見(jiàn)問(wèn)題解答(FAQ)筆記討論如何從單端輸入信號產(chǎn)生經(jīng)調整的差分輸出信號,并對信號進(jìn)行電平轉換以確保其滿(mǎn)足ADC滿(mǎn)量程的性能需求。為了幫助回答這個(gè)常見(jiàn)問(wèn)題,我們將使用LTC6228(一款低噪聲、低失真、高速軌到軌輸出運算放大器)和LTC2387
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新一代多路復用ADC如何簡(jiǎn)化復雜系統設計

  • 本文介紹新一代多路復用模數轉換器(ADC)如何提供更多通道、更深入的信號鏈集成、靈活性和魯棒性?xún)?yōu)勢,以簡(jiǎn)化復雜系統設計,從而支持在先進(jìn)工廠(chǎng)和生產(chǎn)設施中實(shí)現自動(dòng)化和過(guò)程控制。在現代生產(chǎn)設施中,適當的模擬前端(AFE)對于實(shí)現穩定可靠、精密準確的模數轉換至關(guān)重要。由于不同系統和機器之間存在差異,通常情況下,可以使用可編程邏輯控制器(PLC)來(lái)控制許多復雜的參數。為此,將通過(guò)模擬輸入模塊來(lái)利用不同的傳感器和信號。許多傳感器(例如壓力、流量、溫度和稱(chēng)重量傳感器)只能夠提供所測參數量的模擬輸出。因此,需要許多精密準
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伺服環(huán)路 ADC 測試簡(jiǎn)介

  • A/D 轉換器 (ADC) 的靜態(tài)參數有助于了解直流或緩慢變化信號的器件行為。然而,為了確定靜態(tài)參數(包括失調和增益誤差、微分非線(xiàn)性(DNL) 和積分非線(xiàn)性(INL)),我們首先需要確定 ADC 的直流傳遞函數。伺服環(huán)路測試是確定 ADC 傳遞函數的經(jīng)典工業(yè)方法。A/D 轉換器 (ADC) 的靜態(tài)參數有助于了解直流或緩慢變化信號的器件行為。然而,為了確定靜態(tài)參數(包括失調和增益誤差、微分非線(xiàn)性(DNL) 和積分非線(xiàn)性(INL)),我們首先需要確定 ADC 的直流傳遞函數。伺服環(huán)路測試是確定 ADC 傳遞函
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真雙極性輸入、全差分輸出ADC驅動(dòng)器設計

  • 數據采集和通用測試測量設備中使用的精密信號鏈必須適應寬廣的輸入電平范圍。信號鏈可能需要提供高輸入阻抗,同時(shí)支持增益和衰減,并調整共模電平以確保信號落在A(yíng)DC的適當輸入范圍內。數據采集和通用測試測量設備中使用的精密信號鏈必須適應寬廣的輸入電平范圍。信號鏈可能需要提供高輸入阻抗,同時(shí)支持增益和衰減,并調整共模電平以確保信號落在A(yíng)DC的適當輸入范圍內。圖1中的原理圖顯示了兩級信號調理,它能調整差分雙極性±10 V輸入信號,并將其轉換為 ADC 所需的共模電平為 2.048 V的全差分±4.096 V信號。設計目
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