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基于單片機的RLC電抗參數測試系統設計與應用*

- 針對傳統RLC電抗參數測試系統復雜、功耗大、精度低等方面的局限,設計了一種基于單片機的RLC電抗參數測試系統,利用振蕩電路與待測元件的線(xiàn)性關(guān)系準確測量RLC器件的電抗參數。系統采用STC89C52單片機作為中心控制器,NE555產(chǎn)生計數脈沖,CD4052模擬開(kāi)關(guān)切換測量模式,操作簡(jiǎn)單實(shí)用。經(jīng)實(shí)驗測試,RLC參數測試系統響應快、精度高、穩定性強,具有很強的使用價(jià)值。
- 關(guān)鍵字: RLC 單片機 NE555 模擬開(kāi)關(guān) 多諧振蕩
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