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NI半導體測試高峰論壇再度聚焦5G毫米波測試解決方案，迎接5G時(shí)代
- 2019年7月8日 - 三大運營(yíng)商、5G設備廠(chǎng)商關(guān)于“搶占市場(chǎng)”的大戰已經(jīng)開(kāi)始，整個(gè)產(chǎn)業(yè)鏈將進(jìn)入沖刺階段。然而，毫米波（mmWave）作為5G最關(guān)鍵的技術(shù)之一，目前還有許多與此相關(guān)尚未解決的技術(shù)難題。NI (國家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI)的毫米波測試解決方案致力于幫助設備廠(chǎng)商解決研發(fā)實(shí)驗室和量產(chǎn)階段的測試挑戰，NI最新發(fā)布的mmWave VST（毫米波矢量信號收發(fā)儀，millimeter wave vector signal transceiver）在NIWeek 20
- 關(guān)鍵字： NI 東京電子 FormFactor Reid-Ashman ADI
吉時(shí)利授權FormFactor公司為探針卡供應商
- 美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司，日前宣布授權位于加利福尼亞利弗莫爾的FormFactor公司為吉時(shí)利半導體參數測試儀制造高性能參數測試探針卡。FormFactor公司所提供的探針卡將應用于吉時(shí)利S600系列參數測試儀，進(jìn)行測量超低直流電流，以及對接觸半導體晶圓的PIN腳進(jìn)行標準直流參數測試。晶圓制造商和代工廠(chǎng)可以采用S600系列測試儀對用于組裝和封裝的晶圓進(jìn)行合格性檢測或工藝監測。 FormFactor公司Takumi探針卡非常適合于吉時(shí)利最先進(jìn)的參數測試儀——S680型直流/射頻參數測
- 關(guān)鍵字： 探針卡 吉時(shí)利 FormFactor 測試 測量
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formfactor介紹
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