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用開(kāi)放測試平臺R&S CompactTSVP快速實(shí)現數字功能性測試
- 借助羅德與施瓦茨公司基于PXI的生產(chǎn)測試平臺R&S CompactTSVP的新選件，即使在需要進(jìn)行大量數據運算的領(lǐng)域，快速數字功能性測試也可以實(shí)現。全新的高速數字測試模塊R&S TS-PHDT支持高達40MHz的數據速率以及1.5GB的存儲容量。測試電子組件所需要的激勵信號、期望值以及實(shí)測值都可以存儲在本地。由于模塊內部能實(shí)時(shí)對比實(shí)測值與期望值，記錄的測試數據不再需要傳送到系統控制器，因此節約了大量的測試時(shí)間。 R&S TS PHDT，這個(gè)小
- 關(guān)鍵字： 嵌入式系統 單片機 R&S CompactTSVP PXI 嵌入式
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