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用Arrhenius方程預測電子元件老化
- 了解如何計算老化過(guò)程的活化能，以及關(guān)于A(yíng)rrhenius方程在預測晶體老化過(guò)程時(shí)的有用性的一些相互矛盾的觀(guān)點(diǎn)。在之前的一篇文章中，我們討論了高溫加速老化方法是一種有效的技術(shù)，它使制造商能夠使用相對較短的測試時(shí)間來(lái)確定電子元件的長(cháng)期穩定性。例如，使用這種方法，從30天的測試中獲得的數據可能足以以可接受的精度確定一年后晶體的漂移。為了應用這項技術(shù)，我們需要知道衰老過(guò)程的活化能。在這篇文章中，我們將了解更多關(guān)于計算老化過(guò)程的活化能。我們還將探討關(guān)于A(yíng)rrhenius方程/公式在應用于老化預測問(wèn)題時(shí)的有用性的一些
- 關(guān)鍵字： Arrhenius方程 電子元件老化
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arrhenius方程介紹
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