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電子元件老化——電阻和運算放大器的老化效應
- 使用溫度計算和Arrhenius方程了解電阻器和放大器的老化行為，以了解電阻器漂移、電阻器穩定性和運算放大器漂移。之前，我們討論了使用相對較短的測試時(shí)間來(lái)評估電子元件長(cháng)期穩定性的高溫加速老化方法。在本文中，我們將繼續討論并研究電阻器和放大器的老化行為。老化預測——老化引起的電阻漂移首先，讓我們記住電阻器的值會(huì )隨著(zhù)時(shí)間而變化。在許多電路中，只需要總的精度，電阻器老化可能不是一個(gè)嚴重的問(wèn)題。然而，某些精密應用需要在指定壽命內長(cháng)期漂移低至百萬(wàn)分之幾的電阻器。因此，開(kāi)發(fā)具有足夠精度的老化預測模型以確保所采用的精密
- 關(guān)鍵字： 電子元件老化，電阻，運算放大器，老化效應，Arrhenius
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