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德州儀器推動(dòng)IEEE 1149.7 新標準的開(kāi)發(fā)與認證
- 隨著(zhù)芯片功能不斷增加，系統設計從簡(jiǎn)單的電路板向復雜的多芯片片上系統 (SoC) 架構發(fā)展，手持終端與消費類(lèi)電子產(chǎn)品開(kāi)發(fā)人員正面臨著(zhù)日益嚴格的引腳與封裝要求。作為 IEEE 工作組的重要成員，德州儀器 (TI) 日前宣布將致力于推動(dòng) IEEE 1149.7 標準獲得批準。IEEE 1149.7 是一種全新的雙引腳測試與調試接口標準，可將 IEEE 1149.1 技術(shù)的引腳數量減半，使設計人員能夠輕松測試并調試具有復雜數字電路、多個(gè) CPU 以及應用軟件的產(chǎn)品，如移動(dòng)與手持通信設備等。除領(lǐng)銜推進(jìn)最新 IE
- 關(guān)鍵字： TI 德州儀器 IEEE 1149.7 嵌入式 SoC
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